Τµήµα Χηµείας Πανεπιστήµιο Κρήτης Εργαστήριο Φυσικοχημείας I ΧΗΜ-311 Γ εξάμηνο 2013-14 Αρχές Λειτουργίας και Τύποι Λέιζερ Παραδείγµατα Φασµατοσκοπίας Λέιζερ Ασφάλεια Λέιζερ Θ. Κιτσόπουλος,. Άγγλος
Πηγή άκτινοβολίας Λέιζερ (LASER: Light Amplification by the Stimulated Emission of Radiation) Η ακτινοβολία λέιζερ παράγεται λόγω εξαναγκασµένης εκποµπής φωτονίων σε ένα ενεργό µέσο (αέριο, υγρό ή στερεό) το οποίο διεγείρεται (αντλείται) οπτικώς ή ηλεκτρικώς. Ένα λέιζερ κατασκευάζεται µε την τοποθέτηση του ενεργού µέσου µεταξύ 2 κατόπτρων (κοιλότητα), η απόσταση µεταξύ των οποίων (συνήθως) είναι ακέραιο πολλαπλάσιο του µισού-µήκους κύµατος της ακτινοβολίας. Άντληση Ενεργό υλικό d=nλ/2, n=1,2,3 d Κυριότερα χαρακτηριστικά του λέιζερ 1. Κατευθυντικότηταδηλ. η µικρή απόκλιση της δέσµης. Επειδή (συνήθως) η ακτινοβολία πηγάζει από µια πολύ καλά ευθυγραµµισµένη κοιλότητα. 2. Μονοχρωµατικότητα: Πολύ καλά προσδιορισµένο µήκος κύµατος. 3. Υψηλή ένταση (ισχύς) δηλ πολλά φωτόνια ανά µονάδα επιφάνειας ανά χρόνο. 4. Συµφωνία (Coherence) δηλ. όλα τα κύµατα των φωτονίων που εκπέµπονται έχουν την ίδια φάση 2
Ιστορικά στοιχεία 1917 - Einstein suggested possibility of stimulated emission. 1958 - Shawlow and Townes outlined conditions needed to amplify stimulated emission of visible light waves. 1960 - Maiman made first ruby laser, with light output at 694 nm. 1961 - Javan constructed the HeNe-laser. 1962 - Hall et al. discover the GaAs semiconductor laser. 1963 - Patel obtained laser action in CO 2. 1964 - Geusic and Marcos build the first Nd:YAG laser - Bridges obtained laser action in Argon-Ions. (Ar + laser) 1970 - Basov demonstrated the first excimer laser (Xe 2 ). 1975 - Ewing and Brau reported laser action on KrF an XeCl. 1985 - Matthews and Rosen demonstrated first x-ray laser 2001 - Papadogiannis, Charalambidis produce attosecond laser pulses
Το πρώτο laser Ruby Laser: Cr +3 :Al 2 O 3 Theodor H. Maiman : 1960, Nature, 187, 493 4
Βασική προϋπόθεση για δράση λέιζερ: Αναστροφή πληθυσµού δηλ. θα πρέπει µε κάποιο τρόπο να έχουµε µεγαλύτερο πληθυσµό στη διεγερµένη κατάσταση συγκριτικά µε τη βασική. Η αναστροφή πληθυσµού απαιτεί ενέργεια (άντληση) Αυτή η άντληση επιτυγχάνεται είτε µε φωτόνια (οπτική άντληση) είτε µε ηλεκτρόνια (ηλεκτρική άντληση) Εξαναγκασµένη εκποµπή Αναστροφή πληθυσµών Εκποµπή σύµφωνης ακτινοβολίας
Συστήµατα Λέιζερ Στην πράξη αναστροφή πληθυσµών και ως αποτέλεσµα αυτής δράση λέιζερ είναι εφικτό να επιτευχθεί σε συστήµατα τριών (3) ή τεσσάρων (4) επιπέδων. ΕΝ ειναι εφικτή η παρατήρηση δράσης λέιζερ σε σύστηµα δύο (2) επιπέδων (Να αιτιολογήσετε) επίπεδα άντλησης επίπεδα άντλησης µετάπτωση µετάπτωση άντληση διεγερµένο επίπεδο άντληση διεγερµένο επίπεδο δράση λέιζερ δράση λέιζερ διεγερµένο επίπεδο λέιζερ 3 επιπέδων θεµελειώδης κατάσταση λέιζερ 4 επιπέδων µετάπτωση Βασικές διεργασίες στη λειτουργία των Λέιζερ Θεµελειώδης κατάσταση Απορρόφηση ακτινοβολίας - ιέγερση (a): Α + hν Α* Β 12 2> Αυθόρµητη αποδιέγερση (b) : Α* Α + hν Α 21 a b c Εξαναγκασµένη αποδιέγερση (c) : Α* + hν Α + 2hν Β 21 Συντελεστές Einstein 1>
Παράδειγµα : Το Λέιζερ ιοξειδίου του Άνθρακα (CO 2 laser) N 2 CO 2 υ = 1 N 2 (υ=1)+co 2 (000) CO 2 (001)+N 2 (υ=0) ν 3 ν 2 ν 1 040 001 200 9.6 µm CO 2 (001) CO 2 (100)+hν (10.6 µm) CO 2 (001) CO 2 (020)+hν (9.6 µm) 030 10.6 µm 020 110 100 010 υ = 0 N 2 (υ=0)+e - N 2 (υ=1) 000 Αναστροφή πληθυσµών CO 2 (001) : αργή αποδιέγερση 7 CO 2 (100)και CO 2 (020) : ταχεία αποδιέγερση
Αναστροφή πληθυσµού (Population inversion) Ενίσχυση (Gain) Nόµος Beer : L Ενεργό υλικό d di ( x) = I( x) adx I = I 0 e a2l Για µία πλήρη διαδροµή στην κοιλότητα (0, 2d)) a b c Αν α<0 (αρνητική (!) απορρόφηση) τότε έχουµε ενίσχυση ακτινοβολίας (gain) στην κοιλότητα a, b, c : απλή κινητική θεώρηση του συστήµατος δύο επιπέδων dn c = B12 nh νn1 + B21nh νn2 + A21N 2 ( B12 = σ12, I = ρc, ρ = nh ν ) dt hν dn g1 di g1 hν = σ 12I( N1 N2) = σ 12I( N1 N2) dt g dx g σ 12 ( N 1 g g 1 2 N 2 ) = a 2 a < 0 N 2 > g g 2 1 N 1 2 2> 1> Για να ισχύει α < 0 απαιτείται g 1 Ν 2 >g 2 Ν 1 δηλ. ΑΝΑΣΤΡΟΦΗ ΠΛΗΘΥΣΜΩΝ Θεωρώντας β (cm -1 ), συντελεστή απωλειών εντός της κοιλότητας προκύπτει : I a2l β 2d a2l γ 0 2d = I0e e = I0e a2l + < 0 Nthreshold = ράση λέιζερ ευνοείται σε κοιλότητες µε χαµηλές απώλειες, γ γ γ 2Lσ 12
Μεταβάσεις µεταξύ ενεργειακών επιπέδων (συντελεστές Einstein) 2> hν hν hν hν hν 1> Β 12 ρ Β 21ρ A 21 Συντελεστές Einstein : Β 12, Β 21, Α 21 ρ = ρ(ν) : Πυκνότητα ισχύος ακτινοβολίας Ε = Ε 2 -Ε 1 = hν N 1, N 2 : πληθυσµοί (cm -3 ) επιπέδων 1 και 2 dn dn2 Σε θερµική ισορροπία : 1 = = 0 B = 12ρN1 + B21ρN 2 + A21N 2 0 dt dt κατανοµή Boltzmann : N 2 g2 E / kt g2 hν / kt = e = e N1 g1 g1 Nόµος A21N 2 A21 / B21 A21 / B21 Planck ρ( ν ) = = = hν / kt B12 N1 B21N 2 ( B12 / B21)( N1 / N2) 1 ( B12 / B21)( g1 / g2) e 1 r 2 8πhν g2 µ 12 Nόµος Planck ρ = B21 = 2 g 6ε h 3 3 8πhν ( ν, T ) = A21 = B 3 21 B 3 hν / kt 12 c ( e 1) c ΦΥΣΙΚΟΧΗΜΕΙΑ Ι : ΜΟΡΙΑΚΗ ΦΑΣΜΑΤΟΣΚΟΠΙΑ (Γ εξ. 2011) 1 o
Χαρακτηριστικά ακτινοβολίας λέιζερ Κατευθυντικότητα (Directionality) Ενεργό υλικό d ιατοµή δέσµης : Α (mm 2 ) θ 2 λ Ω( steradians) ( θ ) A 2 Ως αποτέλεσµα των αλλεπάλληλων ανακλάσεων µεταξύ των κατόπτρων της κοιλότητας η ενισχυόµενη ακτινοβολία είναι εκείνη που διαδίδεται κατα µήκος του άξονα της κοιλότητας. Κατα συνέπεια η προκύπτουσα δέσµη λέιζερ χαρακτηρίζεται από υψηλή κατευθυντικότητα (highly collimated beam) και ως εκ τούτου επιτρέπει τη διάδοση της ακτινοβολίας µε ελάχιστη απόκλιση για ιδιάιτερα µεγάλες αποστάσεις. Το αίτιο για την απόκλιση απο την ιδανική συγγραµµικότητα είναι η περίθλαση. Άσκηση Να προσδιορίσετε τη διατοµή δέσµης λέιζερ,µήκους κύµατος λ =500 nm, σε απόσταση 1 km από το λέιζερ αν στην έξοδο της κοιλότητας η διάµετρος της δέσµης είναι d o =5 mm. 10
Χαρακτηριστικά ακτινοβολίας λέιζερ Μονοχρωµατικότητα (Monochromaticity) Αν και λόγω της αρχής της αβεβαιότητας δεν είναι εφικτό να παραχθεί ιδανικώς µονο-χρωµατική ακτινοβολία, οι πηγές λέιζερ παράγουν υψηλής φασµατικής «καθαρότητας» ακτινοβολία. Στο ορατό, τυπικές τιµές συχνότητας είναι : ν 5x10 14 Hz Τυπικό φασµατικό εύρος λέιζερ : ν 1x10 2 Hz Με ειδικές τεχνικές επιτυγχάνεται µέχρι ν 1 Hz Μονοχρωµατικότητα : ν/ν 2x10-13 Κεντρικό ρόλο στην επίτευξη υψηλής µονοχρωµατικότητας παίζει το φάσµα ενίσχυσης του ενεργού υλικού για τη συγκεκριµένη µετάβαση λέιζερ (gain profile) και οι ρυθµοί τηε κοιλότητας. Άσκηση Να αναζητήσετε πληροφορίες για 2-3 εµπορικώς διαθέσιµα λέιζερ και να αναφέρετε τις προδιαγραφές τους όσον αφορά το φασµατικό εύρος (bandwidth) της εκεπεµπόµενης ακτινοβολίας. Να υπολογίσετε χαρακτηριστικές τιµές ν/ν. 11
Χαρακτηριστικά ακτινοβολίας λέιζερ ιαµήκεις ρυθµοί (longitudinal modes) της κοιλότητας του λέιζερ Ενεργό υλικό d λ c c n = d n = d ν = n 2 2ν 2d c ν = ν ( n + 1) ν ( n) = 2d Π.χ. Εάν d = 15 cm τότε ν=10 9 Hz=1 GHz ράση λέιζερ Η µετάβαση µεταξύ των (δύο) επιπέδων που εµπλέκονται στην δράση του λέιζερ έχει έναφασµατικό εύρος (gain profile)το οποίο προσδιορίζεται από τα χαρακτηριστικά και τη συνολική διαπλάτυνση των δύο καταστάσεων. Ο αριθµός των διαµήκων ρυθµών της κοιλότητας, που ενισχύονται και συνεισφέρουν στη δράση λέιζερ ευρίσκονται αναγκαστικά εντός του φασµατικού εύρους της µετάπτωσης του λέιζερ. ν ν12
Χαρακτηριστικά ακτινοβολίας λέιζερ ιαµήκεις ρυθµοί (longitudinal modes) της κοιλότητας του λέιζερ ν = λ λ = c 2d c ν = 2 ν 2 λ 2d 2 λ c ν Counts (a.u.) κοιλότητα ~0. 0.1 mm Εκπεµπόµενη ακτινοβολία έσµη Nd:YAG λέιζερ Γυάλινα πλακίδια Rh101/ 101/MeOH πάχους L 580 600 620 Wavelength (nm) Mεθανολικό διάλυµα της οργανικής χρωστικής R101 (Ροδαµίνη 101) τοποθετηµένο µεταξύ 2 γυάλινων πλακιδίων (ισοδυναµεί µε κυψελίδα οπτικού δρόµου ~ d)αντλείται µε παλµικό λέιζερ Nd:YAG που εκπέµπει στα 532 nm µε αποτέλεσµα να παρατηρείται δράση λέιζερ από τη χρωστική στην περιοχή των 600 nm µε χαρακτηριστικούς διαµήκεις ρυθµούς µε δλ = 1,37 nm. Nαπροσδιορισθεί η αντίστοιχη τιµή του δν καθώς και η οπτική διαδροµή της κοιλότητας, d. λ = 1.37 nm Counts (a.u.) 585 590 595 600 605 610 Wavelength (nm) 13
Χαρακτηριστικά ακτινοβολίας λέιζερ Εγκάρσιοι ρυθµοί (transverse modes) της κοιλότητας του λέιζερ Η κοιλότητα του λέιζερ φαντάζει σαν ένα τρισδιάστατο πηγάδι (φρεάτιο) ύο από αυτές τις διαστάσεις είναι κάθετες στην διεύθυνση διάδοσης του φωτός και η κατανοµή της έντασης περιγράφεται µε τους εγκάρσιους τρόπους (ΤΕΜ ml ) όπου mκαι l είναι ο αριθµός των κοµβικών επιπέδων στην κατακόρυφη και και οριζόντια διεύθυνση αντιστοίχως. Οι λύσεις του διδιάστατου σωµατιδίου σε φρεάτιο είναι γνωστές Ψ n ( x) = 2 L nπ sin x. L Ψ n x n y ( x, y) = Ψnx ( x) Ψny ( y) ΤΕΜ 00 ΤΕΜ 01 ΤΕΜ 10 ΤΕΜ 11 10 10 10 10 8 8 8 8 Y Axis Title 6 4 2 Y Axis Title 6 4 2 Y Axis Title 6 4 2 Y Axis Title 6 4 2 14 2 4 6 8 10 X Axis Title 2 4 6 8 10 X Axis Title 2 4 6 8 10 X Axis Title 2 4 6 8 10 X Axis Title
Χαρακτηριστικά ακτινοβολίας λέιζερ Συµφωνία (Coherence) Η συµφωνία µιάς δέσµης λέιζερ υποδηλώνει το οτι τα κύµατα ηλεκτροµαγνητικής ακτινοβολίας ευρίσκονται σε φάση. Αλλά εξαιτίας του πεπερασµένου φασµατικού εύρους ν,οι διαφορετικού µήκους κύµατος συνιστώσες της δέσµης λέιζερ τελικά καταλήγουν να ταλαντώνονται εκτός φάσης. Προφανώς υψηλή µονοχρωµατικότητα δέσµης συνεπάγεται υψηλή συµφωνία. Χρονική συµφωνία : Ο χρόνος, τ c,ό οποίος µεσολαβεί έτσι ώστε δύο Η/Μ c κύµατα µε διαφορά συχνότητας ν να έλθουν εκτός φάσης κατα ένα πλήρη κύκλο. Χρόνος συµφωνίας (coherence time) : τ c = 1/ ν Η χρονική συµφωνία εκφράζεται και µε βάση το: Μήκος συµφωνίας (coherence length) : l c =λ 2 / λ Χωρική συµφωνία (spatial coherence) : Εκφράζει τη συµφωνία σε µιά κάθετη διατοµή της δέσµης. Άσκηση Να υπολογίσετε το µήκος συµφωνίας της κίτρινης γραµµής του Na, θεωρώντας διαπλάτυνση Doppler και να το συγκρίνετε µε το αντίστοιχο ενός λέιζερ He-Ne.
Χαρακτηριστικά ακτινοβολίας λέιζερ Λαµπρότητα (Brightness), Ισχύς (Power), Ενέργεια (Energy) Ισχύς ακτινοβολίας (Radiant Power): P Radiance : L = P /Α Ω (W/cm 2 sr ) A : διατοµή πηγής Πυκνότητα ενέργειας (Radiant energy density) : ρ (J/m 3 ) Φασµατική πυκνότητα ισχύος (Spectral power density): P(ν) (W/Hz) (W) Λαµπρότητα (Brightness) : β ν = P(ν) /Α Ω ν (W/cm 2 sr Hz) Φασµατική ένταση (Intensity) : Ι(ν) = P(ν) /Α ν (W/cm 2 Hz) Ηλιος : Λέιζερ He-Ne, P=1 mw β(580 nm; 5800 K) 1,5x10-12 W/cm 2 sr Hz β(632,8 nm; ν=1x10 4 Hz) 25 W/cm 2 sr Hz Ενέργεια παλµού λέιζερ (pulse energy) : E = P(t)dt Ισχύς παλµού (Peak power) : P = E/ τ (J) τ : χρονικό έυρος παλµού (FWHM) Ροή ισχύος (Irradiance, Power density) : Ι = P/A Ροή ενέργειας (Energy density) : F = E/A A : διατοµή ακτινοβολούµενης επιφάνειας Άσκηση Να επιβεβαιώσετε το αποτέλεσµα των ανωτέρω υπολογισµών των τιµών βν.
Τύποι λέιζερ * Αερίων (Gas lasers) * Υγρών /χρωστικές (Dye lasers) * Στερεάς κατάστασης (Solid state lasers) * Ηµιαγωγών (Semiconductor diode lasers) * Χηµικά laser (Chemical lasers) * Χρωµατικών κέντρων (Color center lasers) * Ελευθέρων ηλεκτρονίων (Free-electron laser) Εργαστηρική Ασφάλεια κατα τη χρήση Λέιζερ Στο τέλος των διαφανειών παρατίθεται παράρτηµα στο οποίο αναφέρονται θέµατα και κανόνες ασφαλούς χρήσης λέιζερ
Ενεργό υλικό ΤύποςΚατηγορία Μήκος κύματος F 2 Gas 157 nm ArF Excimer 193 nm KrF Excimer 248 nm XeCl Excimer 308 nm N 2 Gas 337 nm Organic dyes Dye lasers 320-1000 nm (tunable) He-Cd Gas 325, 42 nm Ar + (Argon ion) Gas 275-303, 330-360, 477, 514 nm Kr + (Krypton ion) Gas He-Ne Gas 543, 632.8, 1150 nm GaAlInP family Semiconductor 630-680 nm Ti:Sapphire Solid state 680-1130 nm (tunable) Ruby : Cr 3+ :Al 2 O 3 Solid state 694 nm Alexandrite Solid state 720-800 nm (tunable) GaAlAs family Semiconductor 750-900 nm Nd:YAG(YAG : Y 3 Al 5 O 12 ) Solid state 1064 nm (harmonics: 532, 355, 266, 213 nm InGaAsP family Semiconductor 1.2-1.6 μm HF Gas 2.6-3.0 μm CO Gas 5-6 μm CO 2 Gas 9.6, 10.6 μm 18
Ταξινόµηση λέιζερ µε βάση την ισχύ ακτινοβολίας εξόδου CLASS 1 CLASS 2 CLASS 2α CLASS 3a CLASS 3b CLASS 4 <0.4 mw cw «ακίνδυνο» αν δεν αποσυναρµολογηθεί!!! CD, DVD (40mW!!!) < 1 mw cw, ορατή ακτινοβολία επικίνδυνο υπό συνθήκες συνεχούς έκθεσης < 1 mw cw, ορατή ακτινοβολία επικίνδυνο υπό συνθήκες εστίασης super-market scanners 1 5 mw cw επικίνδυνο υπό συνθήκες συνεχούς έκθεσης δείκτες laser 5-500 mw cw υψηλής επικινδυνότητας, καµµιά άµεση έκθεση εργαστηριακά, ερευνητικά laser Παλµικά και συνεχή (>500 mw) υψηλής επικινδυνότητας εργαστηριακά, ερευνητικά, ιατρικά, στρατιωτικά laser 19
(1) He Ne (λέιζερ αερίων ουδέτερων ατόµων), συνεχής λειτουργία λ : 3.39 µm, 632.8nm, 1.15µm, Ισχύς< 1mW µέχρι δεκάδες mw 20
(1) He Ne (λέιζερ αερίων ουδέτερων ατόµων), συνεχής λειτουργία λ : 3.38 µm, 632.8nm, 1.15µm, Ισχύς< 1mW µέχρι δεκάδες mw 21
(2) Excimer lasers ( ιεγερµένων διµερών) ArF (193nm), KrF (248nm), XeCl (308nm), XeF (351nm) Παλµική λειτουργία ~10ns, µερικά J Άντληση κοιλότητας µε ηλεκτρική εκκένωση Τα ευγενή αέρια έχουν κλειστές στοιβάδες στην βασική ηλεκτρονική κατάσταση. Όταν όµως διεγερθούν µοιάζουν µε αλκάλια και έτσι µπορούν να δηµιουργήσουν σταθερούς δεσµούς µε άτοµα αλογόνων. κρούσεις e ζώνη δράσης λέιζερ XeX * Xe + X
(3) Λέιζερ οργανικών χρωστικών (dye lasers) Πολυµεθινικές χρωστικές 0.7-1µm, ξανθένια 0.5-0.7µm, κουµαρίνες 0.4-0.5µm σε διαλύµατα µεθανόλης, DMSO, διοξάνιουσε συνεχή κυκλοφορία του διαλύµατος Οπτική άντληση µε λυχνίες τόξου, εκκένωσης, άλλα λέιζερ (Ar+, Kr+, Nd:YAG, διοδικά, Excimer) S 1 Τ 1 διασταύρωση στάθµης S 0 fił ˇˇ Πλεονέκτηµα (!ł ž Ž ž flž Ž fi ž ($(ł ž ž flž Ž fi ž Λειτουργία σε πολλά µήκη κύµατος επιλεκτικότητα (tunability) ή παραγωγή χρονικά στενών παλµών Μειονεκτήµατα Σχετικά µικρός χρόνος ζωής, περιορισµένο εύρος επιλεκτικότητας ανά χρωστική
(3) Λέιζερ οργανικών χρωστικών (dye lasers)
(4) Λέιζερ στερεάς κατάστασης Ruby Cr +3 Al 2 O 3 4 T 1 2 F 2 4 T 2 2 E 2 E : Μετασταθής κατάσταση τ = 3 ms ( 4 F 3/2 ) 4 A 2 25
(4) Λέιζερ στερεάς κατάστασης Nd +3 YAG 4 S 730nm 4 3/2 F 7/2 4 H 9/2 800nm µετάπτωση 4 F 5/2 άντληση τόξου 1.06µm 4 F 3/2 4 I 11/2 4 I 9/2 26
(4) Λέιζερ στερεάς κατάστασης ιάσχιση της 2 Ε λόγω Ti +3 sapphire φαινοµένου Jahn-Teller 2 Ε κρούσεις άντληση µεταβλητή εκποµπή 2 Τ 2 κρούσεις Spectra-Physics : Mai Tai, 100 fs 1. Ευνοείται η αναστροφή πληθυσµών διότι η αποδιέγερση οδηγεί σε δονητικώς διεγερµένο επίπεδο της θεµελιώδους 2 Τ και κατά συνέπεια µη πληθυσµένο. 2. Το φασµατικό εύρος της εκποµπής του Ti:Al 2 Ο 3 επιτρέπει εκποµπή λέιζερ σε ευρεία περιοχή: 660-1180 nm, κατ αναλογία µε τα λέιζερ οργανικών χρωστικών.
(4) Λέιζερ στερεάς κατάστασης ιοδικά λέιζερ Optical Power Optical P ower Laser Optical P ower LED Stimulated emission λ λ Spontaneous emission Optical P ower Laser Cleaved surface mirror p + n + Current http://en.wikipedia.org/wiki/laser_diode L L GaAs GaAs 0 Electrode Electrode Active region (stimulated emission region) I th I Αρχή λειτουργίας ιέλευση ηλεκτρικού ρεύµατος έντασης µεγαλύτερης µιάς τιµής κατωφλίου (Ι th ) µέσω του ηµιαγωγού οδηγεί σε εξαναγκασµένη εκποµπή ακτινοβολίας ως αποτέλεσµα του υψηλού ρυθµού της επανασύνδεσης ηλεκτρονίων οπών. Πλεονεκτήµατα -Εφαρµογές Το πολύ µικρό µέγεθος των διοδικών λέιζερ και η µαζική παραγωγή ελαχιστοποιούν το κόστος και επιτρέπουν τη χρήση σε πληθώρα ηλεκονικών συσκευών (CD, DVD κ. ά.) Εφαρµογές σε περιβαλλοντικές µετρήσεις αερίων ρύπων. λ
(4) Λέιζερ στερεών (µη-γραµµικών κρυστάλλων) Οι µη-γραµµικοί κρύσταλλοι έχουν την ιδιότητα κάτω από συγκεκριµένες γωνίες εισόδου της θεµελιώδους ακτινοβολίας να παράγουν αρµονικές της συχνότητας Γένεση 2 ης αρµονικής - Second Harmonic Generation (SHG) ω 1 ω 1 2ω 1 δεύτερη αρµονική : ω 2 =2ω 1 η πόλωση στρέφεται κατά 90 ο, απόδοση της διαδικασίας ~ 5-20%) Αθροιση συχνοτήτων - Frequency mixing Μη γραµµικοί κρύσταλλοι ω 1 ω 3 ω 2 ω 3 =ω 1 ±ω 2 Oπτική παραµετρική ταλάντωση Optical Parametric Oscillator (OPO) ω 1 ω 3 ω 2 ω 3 =ω 1 ω 2 KDP KH 2 P O 4 KD*P KD 2 P O 4 CDP CsH 2 P O 4 ADP (NH 4 )H 2 P O 4 KTP KTiPO 4 BBO β-βαβ 2 Ο 4 LBO Li 2 Β 4 Ο 7 LiNbO 3 LiIO 3
Φασµατοσκοπικές τεχνικές µε Λέιζερ 1. Φθορισµός επαγόµενος από λέιζερ (LIF, Laser Induced Fluorescence) AB * AB Λέιζερ µεταβλητού λ είγµα Φωτοπολλαπλασιαστής Ανίχνευση Ολικού Φθορισµού Καθώς µεταβάλλεται το µήκος κύµατος του λέιζερ, όταν συντονιστεί µε την συχνότητα κάποιας ηλεκτροδονητικής µετάπτωσης, τότε παρατηρείται φθορισµός ο οποίος µετριέται ως συνάρτηση του µήκους κύµατος. Λαµβάνουµε πληροφορίες για την διεγερµένη ηλεκτρονική κατάσταση Λέιζερ σταθερού ή µεταβλητού λ είγµα ιασπορά Φθορισµού δια µέσου φασµατοσκοπικού αναλυτή Μονοχρωµάτορας Φωτοπολλαπλασιαστής Εάν γίνει ανάλυση του φάσµατος του φθορισµού, τότε λαµβάνουµε πληροφορίες τόσο για την διεγερµένη όσο και την βασική ηλεκτρονική κατάσταση Όρια ανίχνευσης: Περίπου 10 7 µε 10 8 µόρια ανά κβαντική κατάσταση ανά cm 3
LIF Μελέτη διεργασιών καύσης Mέσω της τεχνικής LIF είναι δυνατή η µελέτη µικρών µορίων σε περιβάλλον φλόγας, ο προσδιορισµός της κατανοµής τους και οι χηµικές διεργασίεςστη φλόγα, καθώς και η έµµεση µέτρηση της θερµοκρασίας
LIF Μελέτη διεργασιών καύσης Ατοµα και µόρια στη φασµατοσκοπική µελέτη διεργασιών καύσης Χαρακτηριστικά µήκη κύµατος διέγερσης και εκποµπής φθορισµού λ exc (nm) λ em (nm) 32
LIF Μελέτη διεργασιών καύσης ιάγραµµα ενεργειακών καταστάσεων της ελεύθερης ρίζας ΟΗ Μονο-φωτονική διέγερση ι-φωτονική διέγερση Α 2 Σ + Χ 2 Π D 2 Σ - Χ 2 Π 33
LIF Μελέτη διεργασιών καύσης (θερµοµετρία) Από τις σχετικές εντάσεις των φασµατικών κορυφών είναι δυνατός ο προσδιορισµός της θερµοκρασίας (κατανοµή Boltzmann) I F N υ, J exp( E, J / kt ) ln υ I F = C E υ, J kt 34
Μελέτη περιβάλλοντος και ατµόσφαιρας (LIDAR) LIDAR Laser Induced Detection and Ranging Differential Absorption (DIAL) LIF Raman Βασική αρχή LIDAR έσµη παλµικού λέιζερ (διάρκεια παλµού : 10 ns) κατευθύνεται στην ατµόσφαιρα. Tο ανιχνευτικό σύστηµα καταγράφει το οπισθοσκεδαζόµενο σήµα για κάθε παλµό ως συνάρτηση του χρόνου άφιξης. Ετσι µέσω του χρόνου t=2r/c προσδιορίζεται η απόσταση rαπό την οποία προέρχεται το σήµα κάθε χρονική στιγµή. 35
Μελέτη περιβάλλοντος και ατµόσφαιρας (LIDAR) I( t) = k σ r N( r)exp[ 2 a( r) dr] 2 4πr 0 I(t):οπισθοσκεδαζόµενο σήµα σ/4πρ 2 : απώλεια λόγω ισότροπης σκέδασης Ν(r) : συγκέντρωση απορροφητή σε απόσταση r α(r) : συντελεστης απορρόφησης 36 t=2r/c
2. Φωτοακουστική Φασµατοσκοπία Λέιζερ µεταβλητού λ µικρόφωνο είγµα Καθώς µεταβάλλεται το µήκος κύµατος του λέιζερ, όταν συντονιστεί µε την συχνότητα κάποιας ηλεκτρονικής ή δονητικής µετάπτωσης, τότε λόγω της υψηλής πίεσης στο δείγµα, τα διεγερµένα µόρια θα εφησυχάσουν µέσω κρούσεων και θα δηµιουργηθεί ένα ωστικό κύµα το οποίο ανιχνεύεται µε το µικρόφωνο.. Καταγράφεται η ένταση του µικροφώνου σαν συνάρτηση του µήκους κύµατος. Λαµβάνουµε πληροφορίες για την διεγερµένη ηλεκτρονική ή δονητική κατάσταση Μειονέκτηµα της µεθόδου είναι ότι το µικρόφωνο εκτίθεται στο αέριο δείγµα που µερικές φορές µπορεί να είναι δραστικό και να καταστρέφει το µικρόφωνο. Όρια ανίχνευσης: Περίπου 10 7 µε 10 8 µόρια ανά κβαντική κατάσταση ανά cm 3 37
3. Πολυφωτονική Φασµατοσκοπία Οι υψηλές τιµές έντασης που προσφέρουν τα λέιζερ έχουν ως αποτέλεσµα την πιθανότητα (ταυτόχρονης) απορρόφησης πέραν του ενός φωτονίων από ένα άτοµο ή µόριο. Έτσι όλες οι προαναφερθείσες τεχνικές δύνατναι να πραγµατοποιηθούν και µε απορρόφηση πολλαπλών φωτονίων. Συνέπειες της πολυφωτονικής διαδικασίας : Αλλαγή των κανόνων επιλογής Οι συνολικοί κανόνες επιλογής είναι το γινόµενο των κανόνων επιλογής που διέπει το κάθε µονοφωτονικό στάδιο της συνολικής διαδικασίας Π.χ. Για µία διφωτονική διαδικασία ο κανόνας επιλογής ως προς κέντρο συµµετρίας είναι : g u g Άρα για διφωτονικές διαδικασίες οι επιτρεπτές µεταπτώσεις είναι g g και u u!! Παρατηρούµε λοιπόν ότι µεταβάσεις που απαγορεύονται µε ένα φωτόνιο επιτρέπονται µε δύο! Ένα επιπλέον πλεονέκτηµα τις πολυφωτονικής διαδικασίας είναι ότι γίνονται εφικτές τιµές ενέργειας διέγερσης διπλάσιες ακόµη ή τριπλάσιες από αυτής που αντιστοιχεί στην ενέργεια 38 της µονοφωτονικής διαδικασίας.
3. Πολυφωτονική Φασµατοσκοπία ιεργασίες πολυφωτονικής διέγερσης Αλλαγή κανόνων επιλογής 1hν 2hν 2> 2> = 2 M = E 1 µ e n n µ 2 12 e n M = 1µ 12 e 2 n> (g u)(u g)= g g ( J=0, +1)( J=0, +1)= J=0, +2 1> 1> 39
3. Πολυφωτονική Φασµατοσκοπία ιεργασίες πολυφωτονικής διέγερσης/ιοντισµού 1hν 1hν+ 1hν 2hν 2> 2> 2> IP (2+1)REMPI (2+1)hν 2> 3> 1> 1> 1> 1> REMPI : Resonance enhanced multi-photon ionization 40
3α. Φασµατοσκοπία Πολυφωτονικού Ιονισµού σε Συντονισµό (REMPI, Resonance Enhanced Multi Photon Ionization) AB + AB * AB Καθώς µεταβάλλεται το µήκος κύµατος του λέιζερ, όταν συντονιστεί µε την συχνότητα κάποιας ηλεκτρονικής-δονητικής-περιστροφικής µετάπτωσης, τότε λόγω της υψηλής έντασης του λέιζερ, µεταφέρεται µεγάλο ποσοστό του πληθυσµού στην διεγερµένη κατάσταση ο οποίος στην συνέχεια απορροφά ένα τουλάχιστον ακόµη φωτόνιο και ιονίζεται. Τα ιόντα που παράγονται δηµιουργούν κάποιο ρεύµα το οποίο και καταγράφεται σαν συνάρτηση του µήκους κύµατος. Λαµβάνουµε πληροφορίες για την διεγερµένη ηλεκτρονική κατάσταση Ο συµβολισµός της REMPI είναι (m+n) όπου m είναι ο αριθµός των φωτονίων για συντονισµένη διέγερση του µορίου, και n ο αριθµός των φωτονίων που απαιτούνται για το ιονισµό της διεγερµένης κατάστασης Π.χ. (1+1), (2+1) (3+1), (2+2)κτλ. Όταν τα φωτόνια διέγερσης και ιονισµού είναι διαφορετικά τότε ο συµβολισµός είναι (m+n') Μειονέκτηµα της µεθόδου είναι ότι απαιτεί θαλάµους κενού διότι οι ανίχνευση ιόντων δεν µπορεί να γίνει σε υψηλές πιέσεις Όρια ανίχνευσης: Περίπου 10 4 µε 10 5 µόρια ανά κβαντική κατάσταση ανά cm 3 41
3α. Φασµατοσκοπία Πολυφωτονικού Ιονισµού σε Συντονισµό (REMPI, Resonance Enhanced Multi Photon Ionization) Πολυ-φωτονικός ιονισµός του 1,3-βουταδιένιου 3hν (2+1)REMPI (3+1)REMPI Καθώς πραγµατοποιείται σάρωση του µήκους κύµατος του λέιζερ από υψηλότερα προς χαµηλότερα µήκη κύµατος (δηλ. Αύξηση της ενέργειας φωτονίου) παρατηρούνται διαδοχικά οι εξής διεργασίες : - λ > 3hc/IP (E=3hν = 3hc/λ < IP) (3+1) REMPI - λ ~ 3hc/IP (E=3hν = 3hc/λ ~ IP) τρι-φωτονικός ιοντισµός - λ > 2hc/IP (E=2hν = 2hc/λ < IP) (2+1) REMPI 42
3. Πολυφωτονική Φασµατοσκοπία Φάσµατα εκποµπής φθορισµού από οργανικές χρωστικές (διαλύµατα σε µεθανόλη) κατόπιν διέγερσης µε παλµικό λέιζερ Nd:YAG, λ:1064 nm, τ: 10 ns Fluorescence Intensity (arb. units) R6G DCM Pyr2 500 550 600 650 700 750 800 wavelength (nm) Ι LASER I F 0,202 473 0,427 1458 0,506 2345 0,634 3135 0,828 3794 Να ελεγχθεί η µορφή της καµπύλης I F =f[(i LASER ) 2 ] I I F 2PF Μονο-φωτονική διέγερση = ki ϕ ( εbc) = 0 F 1 k( I 2 0 ) 2 ϕ ( δ F 2P bc) ι-φωτονική διέγερση δ : ενεργός διατοµή / συντελεστής διφωτονικής απορρόφησης 1 GM = 1x10-50 cm 4 sec/photon 43
3. Πολυφωτονική Μικροσκοπία Εφαρµογές ι- και Πολυ-φωτονικής µικροσκοπίας στη Βιολογία Η µη-γραµµική εξάρτηση της απορρόφησης οδηγεί σε εντοπισµό της διέγερσης σε µικρή περιοχή του δείγµατος µε αποτέλεσµα την αύξηση της χωρικής ανάλυσης (ευκρίνειας) + Ευκρίνεια + Ευελιξία διέγερσης (λ) + Μειωµένη φωτόλυση - (fs laser) Απεικόνιση δι-φωτονικού φθορισµού σε νεφρικά κύτταρα ποντικιού 44
3. Πολυφωτονική Μικροσκοπία Σχηµατικό διάγραµµα µικροσκοπίου πολυ-φωτονικού φθορισµού 45
ΑΣΦΑΛΕΙΑ ΕΡΓΑΣΤΗΡΙΩΝ Εργαστήριο Λέιζερ ΙΗ Λ ΙΤΕ. Άγγλος
ΑΣΦΑΛΕΙΑ ΕΡΓΑΣΤΗΡΙΩΝ Εργαστήριο Λέιζερ ΙΗ Λ ΙΤΕ. Άγγλος
Εικόνα οφθαλµικού τραυµατισµού από ακτινοβολία παλµικού λέιζερ http://www.adtdl.army.mil/cgi-bin/atdl.dll/fm/8-50/intro.htm
Ερώτηση Μπορεί κάτι τέτοιο να συµβεί ΣΕ ΜΕΝΑ??? http://www.adtdl.army.mil/cgi-bin/atdl.dll/fm/8-50/intro.htm
255: Beam blinds scientist doing alignment of a Nd:YAG laser During optics alignment involving a 30 mj pulsed Nd:YAG laser (10 Hz) on a target using a prism, the beam exceeded the prism's critical angle and struck the scientist in the eye resulting in a permanent retinal burn. Unfortunately, no protective eyewear was worn at the time. An ophthalmologist was consulted and confirmed retinal burns. Blurry vision resulted especially when reading. http://www.rli.com/accident/case_studies/
ΑΣΦΑΛΕΙΑ LASER Είδη και χαρακτηριστικά πηγών λέιζερ Κίνδυνοι από τη χρήση λέιζερ Αλληλεπιδράσεις ακτινοβολίας λέιζερ µε βιολογικούς ιστούς Πρόληψη - Προστασία
ΕΙ Η LASER Στερεάς κατάστασης (Solid state) Αερίου (Gas lasers) ιεγερµένων διµερών (Excimer) Οργανικών χρωστικών (Dye lasers) Ηµιαγωγών (Diode lasers) Συµφωνία, Μονοχρωµατικότητα, Κατευθυντικότητα
ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΑ LASER Μήκος κύµατος εκποµπής (UV, Visible, IR) Ισχύς/Ενέργεια εξόδου (mw-w, nj-kj) Χρονοδιάρκεια παλµού (cw, ns, ps, fs) Ionizing Radiation x-rays gamma rays Ultraviolet Infrared Radar Radio waves Electric waves 10-12 10-10 10-8 10-6 10-4 10-2 10 0 10 2 10 4 10 6 10 8 Wavelength (cm)
ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑ LASER Φασµατικές περιοχές Band Wavelength Ultraviolet (UV) UV-C 200 280 nm UV-B 280 315 nm UV-A 315 400 nm Visible (VIS) 400 700 nm Infrared (IR) IR-A 700 1400 nm IR-B 1400 3000 nm IR-C 3000 1 mm
ΚΑΤΗΓΟΡΙΕΣ LASER CLASS 1 <0.4 mw cw «ακίνδυνο» αν δεν αποσυναρµολογηθεί!!! CD, DVD (40mW!!!) CLASS 2 < 1 mw cw, ορατή ακτινοβολία επικίνδυνο υπό συνθήκες συνεχούς έκθεσης CLASS 2α < 1 mw cw, ορατή ακτινοβολία επικίνδυνο υπό συνθήκες εστίασης super-market scanners CLASS 3a 1 5 mw cw επικίνδυνο υπό συνθήκες συνεχούς έκθεσης δείκτες laser CLASS 3b 5-500 mw cw υψηλής επικινδυνότητας, καµµιά άµεση έκθεση εργαστηριακά, ερευνητικά laser CLASS 4 Παλµικά και συνεχή (>500 mw) υψηλής επικινδυνότητας εργαστηριακά, ερευνητικά, ιατρικά, στρατιωτικά laser
Class 1 Lasers Class 1 lasers do not emit harmful levels of radiation. Class 2 Lasers (< 1mW, commonly found in alignment applications) Capable of creating eye damage through chronic exposure. In general, the human eye will blink within 0.25 second when exposed to Class 2 laser light, providing adequate protection. It is possible to stare into a Class 2 laser long enough to cause damage to the eye. Class 2a Lasers (special purpose < 1mW, e.g. barcode readers) Class 3a Lasers (1-5 mw) Not hazardous when viewed momentarily with the naked eye, but they pose severe eye hazards when viewed through optical instruments (e.g., microscopes and binoculars). Class 3b Lasers (5-500 mw or less than 10 J/cm 2 for a ¼-s pulsed system) Injury upon direct viewing of the beam and specular reflections. Specific control measures must be implemented. Class 4 Lasers (> 500 mw or greater than 10 J/cm 2 for a ¼-s pulsed system) They pose eye hazards, skin hazards, and fire hazards. Viewing of the beam and of specular reflections or exposure to diffuse reflections can cause eye and skin injuries. All control measures to be outlined must be implemented.
ΚΙΝ ΥΝΟΙ ΑΠΟ ΤΗ ΧΡΗΣΗ LASER - Ακτινοβολία Laser - οφθαλµικός τραυµατισµός, βλάβη - επιδερµικές βλάβες (εγκαύµατα) - Άλλα αίτια - Άλλα αίτια - ηλεκτρική τροφοδοσία - τοξικά χηµικά, διαλύτες (dye lasers) - τοξικά αέρια (excimer lasers) - φωτιά - δευτερεύουσα ακτινοβολία - ακτινοβολία πλάσµα - υπερβολικός θόρυβος
ΑΤΥΧΗΜΑΤΑ ΚΑΤΑ ΤΗ ΧΡΗΣΗ LASER (1) Περιστατικά ατυχηµάτων λέιζερ (ΗΠΑ, 1964-1992) Στην πλειοψηφία τους τα ατυχήµατα περιλαµβάνουν τραυµατισµούς στο µάτι http://www.adm.uwaterloo.ca/infohs/lasermanual/documents/section11.html
ΑΤΥΧΗΜΑΤΑ ΚΑΤΑ ΤΗ ΧΡΗΣΗ LASER (2) Κατανοµή αιτίων σε ατυχήµατα λέιζερ (ΗΠΑ, 1964-1992) Τα περισσότερα ατυχήµατα συµβαίνουν κατά τη διαδικασία ευθυγράµµισης ή/και λόγω µη χρήσης κατάλληλων προστατευτικών γυαλιών http://www.adm.uwaterloo.ca/infohs/lasermanual/documents/section11.html
ΤΟ ΑΝΘΡΩΠΙΝΟ ΜΑΤΙ
ΟΠΤΙΚΗ ΑΠΟΚΡΙΣΗ ΚΑΙ ΙΑΠΕΡΑΤΟΤΗΤΑ ΑΝΘΡΩΠΙΝΟΥ ΜΑΤΙΟΥ
ΑΠΟΡΡΟΦΗΣΗ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑΣ ΣΤΟ ΑΝΘΡΩΠΙΝΟ ΜΑΤΙ Mid- and Far-Infrared (1400 nm 1mm) Mid-Ultraviolet (180 nm 315 nm) Απορρόφηση στον κερατοειδή
ΑΠΟΡΡΟΦΗΣΗ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑΣ ΣΤΟ ΑΝΘΡΩΠΙΝΟ ΜΑΤΙ Near-Ultraviolet (315 nm 390 nm) Selected wavelengths in 700 nm 3000 nm) Απορρόφηση στον φακό
ΑΠΟΡΡΟΦΗΣΗ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑΣ ΣΤΟ ΑΝΘΡΩΠΙΝΟ ΜΑΤΙ Visible and Near-Infrared (400 nm 1400 nm) Η ακτινοβολία εστιάζεται στον αµφιβληστροειδή
ΜΗΧΑΝΙΣΜΟΙ ΒΛΑΒΗΣ ΙΣΤΩΝ Θερµικά φαινόµενα (εγκαύµατα) Φωτοχηµικές αλλοιώσεις Ακουστικά κύµατα Χρόνια προσβολή
ΚΑΝΟΝΕΣ ΑΣΦΑΛΕΙΑΣ LASER Απαγορεύεται η είσοδος µη εξουσιοδοτηµένων ατόµων στα εργαστήρια Υποχρεωτική για όλους η παρακολούθηση ειδικού σεµιναρίου ασφάλειας Στα εργαστήρια επιβάλλεται η χρήση κατάλληλων προστατευτικών γυαλιών Κατά τη διαδικασία ευθυγράµµισης αλλά και κατά τη διεξαγωγή πειραµάτων λαµβάνονται αυστηρά µέτρα ώστε να αποκλειστεί η πιθανότητα άµεσης ή έµµεσης έκθεσης σε ακτινοβολία λέιζερ Προσοχή στην ακτινοβολία UV και IR Απαραίτητη από όλους η υιοθέτηση κανόνων καλής εργαστηριακής πρακτικής
ΠΡΟΛΗΨΗ - ΠΡΟΣΤΑΣΙΑ Υποχρεωτική η χρήση κατάλληλων γυαλιών ασφαλείας κατά την παρουσία σε εργαστήρια λέιζερ
ΠΑΡΑ ΕΙΓΜΑ έσµη παλµικού λέιζερ, διαµέτρου 2 mm, µε ενέργεια ανά παλµό 2.5 mj, ανακλώµενη σε ποσοστό 4% από οπτικό έχει πυκνότητα ενέργειας (0.04x2.5x10-3 J)/(0.25xπx (0.2) 2 cm 2 ) = 3.2 10-3 J /cm 2 Η οποία υπερβαίνει το κατώφλι βλάβης του κερατοειδούς (~10-7 J/cm 2 ) κατά παράγοντα ~3x10 4. Προστασία σε έκθεση αυτού του επιπέδου απαιτεί χρήση προστατευτικών γυαλιών µε οπτική πυκνότητα στο µήκος κύµατος της ακτινοβολίας του λέιζερ (OD) = log(3.2x10 4 ) = 4.5 Nόµος Beer: Α ή (O.D.) = -logτ = log(ιo/ι)
ΕΥΘΥΓΡΑΜΜΙΣΗ LASER Αρχικά ρυθµίζοµε το laser να λειτουργεί σε χαµηλή ισχύ / ενέργεια εξόδου Σχεδιάζουµε πολύ προσεκτικά τη διαδροµή της δέσµης και επιλέγουµε τα κατάλληλα οπτικά (κάτοπτρα, πρίσµατα, φακούς, φράγµατα περίθλασης κλπ). Με τη βοήθεια 2 ( ΥΟ) κινητών πετασµάτων χαµηλής ανακλαστικότητας (συνήθως από χαρτί, πλαστικό ή βαµµένο µέταλλο) επιτρέπουµε τη σταδιακή διάδοση της δέσµης από την έξοδο του λέιζερ µέχρι το πρώτο οπτικό στοιχείο. Ελέγχουµε προσεκτικά την κατεύθυνση της δέσµης µετά το πρώτο οπτικό καθώς και την εµφάνιση πιθανών ανακλάσεων. Συνεχίζουµε µέχρι την ασφαλή κατάληξη της δέσµης στο µετρητικό όργανο ή το δείγµα µας. ΠΡΟΣΟΧΗ : Ταχύτητα φωτός = 3x10 8 m/s >>ανθρώπινα ανακλαστικά
ΚΑΝΟΝΕΣ ΑΣΦΑΛΕΙΑΣ LASER Σήµανση συσκευών λέιζερ και εργαστηρίων
ΑΣΦΑΛΕΙΑ ΕΡΓΑΣΤΗΡΙΩΝ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑ LASER ΗΛΕΚΤΡΙΚΟΙ ΚΙΝ ΥΝΟΙ Υψηλή τάση, Απλή τροφοδοσία και UPS ΧΗΜΙΚΑ ΑΕΡΙΑ (Φιάλες) ΥΓΡΑ (Οξέα/Βάσεις, Οργανικοί διαλύτες) ΣΤΕΡΕΑ ΑΠΟΒΛΗΤΑ ΙΑΦΟΡΑ Τροφοδοσία νερού Συσκευές συνεχούς λειτουργίας
ΗΛΕΚΤΡΙΚΟΙ ΚΙΝ ΥΝΟΙ Υψηλή τάση Απλή τροφοδοσία και UPS Λέιζερ κατηγορίας 3 και 4 (Class3, Class 4) Λέιζερ κατηγορίας 3 και 4 (Class3, Class 4) περιλαµβάνουν τροφοδοτικά παροχής υψηλής τάσης (1-10 kv)
ΧΗΜΙΚΑ ΑΕΡΙΑ Τοξικά ή αδρανή φυλάσσσονται σε ειδικές φιάλες (πειράµατα, λειτουργία excimer laser) ΥΓΡΑ Οξέα/Βάσεις, Οργανικοί διαλύτες, Αντιδραστήρια, Οργανικές χρωστικές ΣΤΕΡΕΑ ΙΑΧΕΙΡΙΣΗ ΑΠΟΒΛΗΤΩΝ
ΙΑΦΟΡΑ ΦΩΤΙΑ Βραχυκύκλωµα (ΠΡΟΣΟΧΗ σε καλώδια τροφοδοσίας) Λέιζερ (Ανάφλεξη πλαστικών, χαρτιού, ρούχων) ΤΡΟΦΟ ΟΣΙΑ ΝΕΡΟΥ ΠΡΟΣΟΧΗ σε σωληνώσεις νερού ψύξης ΣΥΣΚΕΥΕΣ ΣΥΝΕΧΟΥΣ ΛΕΙΤΟΥΡΓΙΑΣ