Development of Sub-nano Scale of EELS Analysis Technique
|
|
- Νίκη Γιάγκος
- 8 χρόνια πριν
- Προβολές:
Transcript
1 Development of Sub-nano Scale of EELS Analysis Technique S. C. Lo 1,4 M. W. Lin 2 S. J. Chen 2 S. R. Lee 2 L. J. Lin 3 (MCL/ITRI) (NTRC/ITRI) TEM MIM TEM This report summarizes the achievements of TEM Group of Materials and Chemical Laboratories (MCL) in developing advanced electron microscopy analysis techniques which can be apply in advanced projects in ITRI. This report will showed the development of sub-nano scale EELS analysis technique. We developed ultra-thin TEM specimen preparation with thickness <50nm and high spatial resolution sub-nano scale (>0.5nm) EELS analysis technique. We believed the advanced electron microscopy analysis techniques will play an important role in the key issue in ultra-thin films, display and storage device development. / Key Words (Field Emission Transmission Electron Microscopy; FETEM) (Electron Energy Loss Spectrometer; EELS)(Ultra-thin Sample Preparation)(Spectrum-Imaging)
2 148 (Bulk Materials) (TiO 2 ) 30nm (1) (Sub-Å and Sub-eV) 200keV (JEOL JEM-2100F) 1.9 Å 1eV (2) (OLED)(OTFT) (Hybrid) (EELS) (3,4) EELS (50~100%) EFTEM Spectrum- Imaging (5) (Signal to Noise Ratio) (EELS Mapping) (5) MIM / / MIM 2nm~
3 L edge~73ev (Hafnium) M edge~1662ev 1000eV EFTEM Spectrum-Imaging 5~40sec 1 STEM Spectrum- Imaging (FETEM) JEOL JEM 2100F TEM (<50nm) (for Sub-nano EELS Analysis) TEM 1. TEM (<50nm) IBM - SEM (6-9) (Plan-view) (8) (Ion Miller) Ion Miller 2. Metal-Insulator- Metal (MIM) AlCu/Ru/MIM/ TiN/Si 300nm GATAN PIPS <50nm EELS PIPS 100nm 50nm 2kV 2 <50nm 149
4 150 EELS EELS Thickness Map Ru (~60nm) <50nm 1. (Cs Corrector)(Monochromator) (Sub-Å and Sub-eV) FEI Company FETEM Titan TM (Sub-angstrom)(Sub-eV) (10) FEI Company Cs Corrector FETEM EDS Mapping (~10pA to 150pA) EELS Mapping (11) Glass Specimen Microscope Specimen Reference: Hong Zhang, Micron, 33 (2002) p.515 Color Difference of the Si Dummy Sample Under Transmitted Light 10µm 8µm 6µm 4µm 2µm 4µm 6µm 8µm 10µm 60 nm OM Image of Sandwich Structure 0.1µm 0 EELS Thickness Map
5 (Transfer Function) X (X-ray Energy Dispersive Spectroscopy; EDS)(Electron Energy Loss Spectroscopy; EELS) (Scanning Transmission Electron Microscope; STEM) (S)TEM STEM (12) JEOL JEM-2100F 0.2nm STEM EDS EELS STEM EELS Spectrum-Imaging STEM EELS Spectrum-Imaging MIM 2. (Spectrum- Imaging) (Spectrum-Imaging) I (x, y, (E)) (EFTEM Spectrum-Imaging ) (a) (13) ( STEM Spectrum-Imaging ) 151 (a) CTEM Condenser Aperture 2β Screen 2α Specimen Objective Aperture Objective Lens Aberration Corrector (b) STEM Collector Aperture Annular Dark-field Detector Field-emission Source and Scan Coils CTEM STEM 12 X E (a) EFTEM (Image-Spectrum) Y (a) EFTEM Spectrum-Imaging (b) STEM Spectrum-Imaging X E (b) STEM (Spectrum-Imaging) Y
6 152 EELS-SI QDs Core-shell Particles John Silcox 2004~2005 S Signal Cd Signal (b) S (c) Cd S Signal ADF Intensity (b) Position (c) Cd signal 1200 ADF Intensity Position ADF Intensity ADF Intensity John silcox 1. (0.2nm) EELS a. Core (CdSe)- shell (ZnS) Quantum Dot Coreshell b. VG HB kV UHV STEM (Prode Size) 0.2nm NK-edge N.D. Browning 1. (0.2nm) EELS (a) Counts (arb. Units) 1nm Counts (arb. Units) 3 O K-edge 2 (c) (b) Energy Loss (ev) nm 1 Counts (arb. Units) (3) (2) (1) (d) Counts (arb. Units) Al-L (3) Si-L (2) (1) Energy Loss (ev) a. (High-k Materials) b. JEOL JEM-2010F (200kV) 0.2nm (c) Energy Loss (ev) (d) Energy Loss (ev) (b) Si HfSiO Poly-Si 5nm Intensity (arb. Units) (c) Susanne Stemmer Santa Barbara 1. (0.3~0.5nm) EELS a. (High-k Materials) Counts (a. u.) Si Hf-si-O O K EELS N K EELS HfLα EDS Poly-Si Counts (a. u.) Position (nm) Si Hf-si-O O K EELS N K EELS HfLα EDS Poly-Si b. FEI TECNAI F30 (300kV) 0.3~0.5nm Position (nm) Position (nm) Ref: 1. Zhiheng Yu et al., NANO LETTERS, Vol. 5, No.4 (2005) p R.F. Klie et al., Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 143 (2005) p Brendan Foran et al., Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 143 (2005) P.149 (b) STEM Spectrum-Imaging JEOL JEM-2100F STEM Spectrum-Imaging <0.5nm 1.5~2 STEM Spectrum-Imaging
7 STEM Spectrum-Imaging 50nm 5nm Holder 3. (a) (b) EELS Pixels EELS Spectrum-imaging 50nm GATAN PIPS Holder 0.5nm >0.5nm TiN TiO 2 (HRTEM) Nano-scale EELS (a) Spectrum-Image Probe Spectrum x (b) Spectrum Line-Scan Probe Spectrum E (a) (b) 14 x E y y 153
8 154 Relative Composition (%) TiN/Al 2 O 3 /HfO 2 /Al 2 O 3 /TiN/Si Substrate 1000 C 20nm Spatial Drift Spectrum Image 1. Probe Size: 0.5nm 0.5nm nm/Pixel (32nm/64pixels) Beam G1 Epoxy TiO /HfO 2 /TiO (mix TiN)/SiO 2 /Si Substrate nm EELS O Ti N Si MIM TEM (<50nm) MIM PCM TEM (<50nm) MIM PCM TEM (<50nm) TiN/Al 2 O 3 /HfO 2 /Al 2 O 3 /TiN/Si Substrate 1000 C 1. Probe Size: 0.5nm 0.5nm Pixel (0.5nm/pixels) Si(B), Ti(G), O(R) Spatial Drift Spectrum Image 20nm 20nm Beam As-deposited EELS
9 TEM TEM (15-18) TEM TEM _news/ENS43/pdf/E1.pdf R.F. Klie et al., "Atomic resolution electron energy-loss spectroscopy", Journal of electron spectroscopy and related phenomena,143 (2005) p Brendan Foran et al., "Characterization of advanced gate stacks for Si CMOS by electron energy-loss spectroscopy in scanning transmission electron microscopy", Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 143 (2005) p Lo, Shen-Chuan et al., "Advanced EFTEM spectrum-imaging technique application in nanomaterials characterization" 2005 P (206) Feb. 2004, p ( 7. (206), Feb. 2004, p ( 8. (208), April 2004, p ( materialsnet.com.tw) 9. R.T. Huang, Shen-Chuan Lo, J.Y. Yan, J.S. Tsai, C. C. Chiang, J.J. Kai and F.R. Chen " Electron Energy Loss Spectroscopy TechniqueAnalysis Application in Nano-Scale Materials" Instruments Today () 26(6)146, 2005, p.73~ /Default.aspx 11. index.htm 12.S.J.Pennycook, M.Varela, C.J.D. Hetherington, and A.I. Kirkland, "Materials Advances through Aberration-Corrected Electron Microscopy", MRS Bulletin, V31, JAN. 2006, p Shen-Chuan Lo, J. J. Kai, and F.R. Chen, "Image- Spectrum Technique: The Investigation of Dielectric Properties of Low-k Materials for Copper Metallization" Chinese Journal of Materials science and Engineering, 33(4), 2002, p GATAN Inc., Digital MicrographTM, STEM Spectrum-Imaging Manual, () (213), September 2004, p ( 16. () (214), October 2004, p ( 17. DBFIB/FETEM () (230), Feb. 2006, p ( 18. DBFIB/FETEM ()(231), March 2006, p ( 155
Energy Level Analysis of Nano and Organic Semiconductor by Photoelectron Spectroscopy
Energy Level Analysis of Nano and Organic Semiconductor by Photoelectron Spectroscopy T. C. Tien 1 J. L. Chen 1 M. T. Shien 2 C. J. Hwang 2 L. N. Tsai 2 Y. J. Shuin 2 L. J. Lin 1,3 (MCL/ITRI) 1 2 3 / /
Current Status of PF SAXS beamlines. 07/23/2014 Nobutaka Shimizu
Current Status of PF SAXS beamlines 07/23/2014 Nobutaka Shimizu BL-6A Detector SAXS:PILATUS3 1M WAXD:PILATUS 100K Wavelength 1.5Å (Fix) Camera Length 0.25, 0.5, 1.0, 2.0, 2.5 m +WAXD Chamber:0.75, 1.0,
Preparation of Hydroxyapatite Coatings on Enamel by Electrochemical Technique
25 7 2009 7 CHINESE JOURNAL OF INORGANIC CHEMISTRY Vol.25 No.7 1187~1193 1,2 *,1 1 ( 1, 361005) ( 2, 363105) : Ca(NO 3 ) 2 NH 4 H 2 PO 4 NaNO 3, (HA) X (XRD) (SEM) (EDS), ph (HA), HA c ph 6 0.5 ma cm -2
Νανοτεχνολογία και Ηλεκτρονική Μικροσκοπία
ΕΚΕΦΕ ΗΜΟΚΡΙΤΟΣ Ινστιτούτο Επιστήµης Υλικών Νανοτεχνολογία και Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Ν. Μπούκος Αυτός ο κόσµος ο µικρός, ο µέγας. Περίγραµµα Εισαγωγή - Κίνητρα Νανοτεχνολογία Σχέση παρασκευής-µικροδοµήςιδιοτήτων
Διπλωματική Εργασία. Μελέτη των μηχανικών ιδιοτήτων των stents που χρησιμοποιούνται στην Ιατρική. Αντωνίου Φάνης
Διπλωματική Εργασία Μελέτη των μηχανικών ιδιοτήτων των stents που χρησιμοποιούνται στην Ιατρική Αντωνίου Φάνης Επιβλέπουσες: Θεοδώρα Παπαδοπούλου, Ομότιμη Καθηγήτρια ΕΜΠ Ζάννη-Βλαστού Ρόζα, Καθηγήτρια
Σύγχρονο Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης. Transition Electron Microscopy TEM
Σύγχρονο Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Ανατομία ΤΕΜ Silicon wafer The transmission electron microscope (TEM) provides the user with advantages over the light microscope (LM) in three key areas: Resolution
Supporting Information
Supporting Information Mitochondria-Targeting Polydopamine Nanocomposites as Chemophotothermal Therapeutics for Cancer Zhuo Wang *,, Yuzhi Chen, Hui Zhang, Yawen Li, Yufan Ma, Jia Huang, Xiaolei Liu, Fang
Το μικροσκόπιο ως αναλυτικό όργανο. Το μικροσκόπιο δεν μας δίνει μόνο εικόνες των παρασκευασμάτων μας.
Το μικροσκόπιο ως αναλυτικό όργανο. Το μικροσκόπιο δεν μας δίνει μόνο εικόνες των παρασκευασμάτων μας. Η διάκριση των μικροσκοπίων σε κατηγορίες βασίζεται, κατά κύριο λόγο, στην ακτινοβολία που χρησιμοποιούν
ΚΕΦΑΛΑΙΟ 7. Οπτική και Ηλεκτρονική Μικροσκοπία
ΚΕΦΑΛΑΙΟ 7 Οπτική και Ηλεκτρονική Μικροσκοπία 7.1 Το οπτικό µικροσκόπιο Το οπτικό µικροσκόπιο είναι οπτικό σύστηµα για την παρατήρηση αντικειµένων υπό µεγέθυνση, µε τη βοήθεια του φωτός. Η παρατήρηση µπορεί
櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶 DOI /j. cnki. bdtjs MOSFET %
櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶 DOI 10. 13290 /j. cnki. bdtjs. 2014. 02. 006 Ge /SiGe 361005 HfO 2 k Si Ge /SiGe SB- n Si 0. 16 Ge 0. 84 n SiGe UHV CVD Ge Si Ge 32 nm Si 0. 16 Ge 0. 84 12 nm Ge
ΑΡΙΣΤΟΤΕΛΕΙΟ ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΘΕΣΣΑΛΟΝΙΚΗΣ
ΑΡΙΣΤΟΤΕΛΕΙΟ ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΘΕΣΣΑΛΟΝΙΚΗΣ Μελέτη των υλικών των προετοιμασιών σε υφασμάτινο υπόστρωμα, φορητών έργων τέχνης (17ος-20ος αιώνας). Διερεύνηση της χρήσης της τεχνικής της Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ΔΡ. ΒΑΣΙΛΕΙΟΣ ΜΠΙΝΑΣ Τμήμα Φυσικής, Πανεπιστήμιο Κρήτης Email: binasbill@iesl.forth.gr Thl. 1269 Crete Center for Quantum Complexity and Nanotechnology Department of Physics, University
Quantum dot sensitized solar cells with efficiency over 12% based on tetraethyl orthosilicate additive in polysulfide electrolyte
Electronic Supplementary Material (ESI) for Journal of Materials Chemistry A. This journal is The Royal Society of Chemistry 2017 Supplementary Information (SI) Quantum dot sensitized solar cells with
Correction of chromatic aberration for human eyes with diffractive-refractive hybrid elements
5 5 2012 10 Chinese Optics Vol. 5 No. 5 Oct. 2012 1674-2915 2012 05-0525-06 - * 100190-14 - - 14. 51 μm 81. 4 μm - 1. 64 μm / O436. 1 TH703 A doi 10. 3788 /CO. 20120505. 0525 Correction of chromatic aberration
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΟ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΟ. Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης ή Διαπερατότητας
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΟ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΟ Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης ή Διαπερατότητας ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΟ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΟ Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης ή Διαπερατότητας Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL
ΑΠΟΣΠΑΣΜΑ ΠΡΑΚΤΙΚΩΝ 438 ης / ΣΥΝΕ ΡΙΑΣΗΣ ΤΗΣ ΕΠΙΤΡΟΠΗΣ ΕΡΕΥΝΩΝ
ΕΛΛΗΝΙΚΗ ΗΜΟΚΡΑΤΙΑ ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΚΡΗΤΗΣ ΕΙ ΙΚΟΣ ΛΟΓΑΡΙΑΣΜΟΣ This project is funded by the European Union Τµήµα: ιοικητικής Υποστήριξης-Προµήθειες Πληροφορίες: Θωµάκης Ζαφείριος Τηλ.: 2810393166 Fax: 2810393130
ΒΕΛΤΙΣΤΟΠΟΙΗΣΗ ΜΗΧΑΝΙΚΩΝ Ι ΙΟΤΗΤΩΝ ΕΠΙΦΑΝΕΙΩΝ ΜΕ ΣΥΓΧΡΟΝΕΣ ΝΑΝΟΤΕΧΝΟΛΟ- ΓΙΚΕΣ ΠΡΟΣΕΓΓΙΣΕΙΣ
ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΚΟ ΕΚΠΑΙ ΕΥΤΙΚΟ Ι ΡΥΜΑ ΚΡΗ- ΤΗΣ ΣΧΟΛΗ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΚΩΝ ΕΦΑΡΜΟΓΩΝ ΤΜΗΜΑ ΜΗΧΑΝΟΛΟΓΙΑΣ Βικεντίου Μάριος ΒΕΛΤΙΣΤΟΠΟΙΗΣΗ ΜΗΧΑΝΙΚΩΝ Ι ΙΟΤΗΤΩΝ ΕΠΙΦΑΝΕΙΩΝ ΜΕ ΣΥΓΧΡΟΝΕΣ ΝΑΝΟΤΕΧΝΟΛΟ- ΓΙΚΕΣ ΠΡΟΣΕΓΓΙΣΕΙΣ ΠΤΥΧΙΑΚΗ
ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΜΟΣ ΦΑΣΕΩΝ ΣΙΔΗΡΟΥ ΣΕ ΔΕΙΓΜΑΤΑ ΟΡΥΚΤΩΝ ΑΠΟ ΤΟ ΥΠΟΘΑΛΑΣΣΙΟ ΗΦΑΙΣΤΕΙΟ ΚΟΛΟΥΜΠΟ (ΣΑΝΤΟΡΙΝΗ) ΜΕ ΧΡΗΣΗ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑΣ ΣΥΓΧΡΟΤΡΟΥ
ΔΙΠΛΩΜΑΤΙΚΗ ΕΡΓΑΣΙΑ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΜΟΣ ΦΑΣΕΩΝ ΣΙΔΗΡΟΥ ΣΕ ΔΕΙΓΜΑΤΑ ΟΡΥΚΤΩΝ ΑΠΟ ΤΟ ΥΠΟΘΑΛΑΣΣΙΟ ΗΦΑΙΣΤΕΙΟ ΚΟΛΟΥΜΠΟ (ΣΑΝΤΟΡΙΝΗ) ΜΕ ΧΡΗΣΗ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑΣ ΣΥΓΧΡΟΤΡΟΥ ΒΑΣΣΑΛΟΣ ΚΩΝΣΤΑΝΤΙΝΟΣ 200500022 ΕΠΙΒΛΕΠΩΝ ΜΕΡΤΖΙΜΕΚΗΣ
Research on the Environmental Impact Factors of Electromagnetic Radiation from High - speed Railway
2013 8 8 179 JOURNAL OF RAILWAY ENGINEERING SOCIETY Aug 2013 NO. 8 Ser. 179 1006-2106 2013 08-0088 - 06 430063 1 2 3 4 X5 A Research on the Environmental Impact Factors of Electromagnetic Radiation from
ΑΡΙΣΤΟΤΕΛΕΙΟ ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΘΕΣΣΑΛΟΝΙΚΗΣ ΤΜΗΜΑ ΦΥΣΙΚΗΣ ΙΑΤΜΗΜΑΤΙΚΟ ΜΕΤΑΠΤΥΧΙΑΚΟ ΠΡΟΓΡΑΜΜΑ ΣΠΟΥ ΩΝ ΝΑΝΟΕΠΙΣΤΗΜΕΣ & ΝΑΝΟΤΕΧΝΟΛΟΓΙΕΣ Ν&Ν ΓΡΑΦΕΝΙΟ : ΦΥΣΙΚΗ & ΕΦΑΡΜΟΓΕΣ ΛΑΜΠΡΙΝΟΣ Ι. ΜΙΧΑΗΛ ΕΠΙΒΛΕΠΩΝ ΚΑΘΗΓΗΤΗΣ:
ΑΝΕΞΑΡΤΗΤΟΣ ΙΑΧΕΙΡΙΣΤΗΣ ΜΕΤΑΦΟΡΑΣ ΗΛΕΚΤΡΙΚΗΣ ΕΝΕΡΓΕΙΑΣ Α.Ε. ιεύθυνση Συντήρησης Συστήµατος Μεταφοράς
ΑΝΕΞΑΡΤΗΤΟΣ ΙΑΧΕΙΡΙΣΤΗΣ ΜΕΤΑΦΟΡΑΣ ΗΛΕΚΤΡΙΚΗΣ ΕΝΕΡΓΕΙΑΣ Α.Ε. ιεύθυνση Συντήρησης Συστήµατος Μεταφοράς ιακήρυξη : ΣΣΜ - 740030 Ηµεροµηνία : 11.10.2017 Αντικείµενο : 1. Στερεοσκόπιο 2. Aναλυτικός ζυγός ΤΕΥΧΟΣ
ER-Tree (Extended R*-Tree)
1-9825/22/13(4)768-6 22 Journal of Software Vol13, No4 1, 1, 2, 1 1, 1 (, 2327) 2 (, 3127) E-mail xhzhou@ustceducn,,,,,,, 1, TP311 A,,,, Elias s Rivest,Cleary Arya Mount [1] O(2 d ) Arya Mount [1] Friedman,Bentley
Microwave Sintering of Electronic Ceramics
25,,, Microwave Sintering of Electronic Ceramics Hideoki Fukushima, Goro Watanabe, Hiroyuki Mori, Masao Matsui ZnO PZT ZnO PZT Microwave heating offers advantages over conventional technologies such as
ΜΕΛΕΤΗ ΔΙΕΠΙΦΑΝΕΙΩΝ ΜΕΤΑΛΛΟΥ / ΑΝΘΡΑΚΟΠΥΡΙΤΙΟΥ ΜΕ ΕΠΙΦΑΝΕΙΑΚΑ ΕΥΑΙΣΘΗΤΕΣ ΤΕΧΝΙΚΕΣ
ΜΕΛΕΤΗ ΔΙΕΠΙΦΑΝΕΙΩΝ ΜΕΤΑΛΛΟΥ / ΑΝΘΡΑΚΟΠΥΡΙΤΙΟΥ ΜΕ ΕΠΙΦΑΝΕΙΑΚΑ ΕΥΑΙΣΘΗΤΕΣ ΤΕΧΝΙΚΕΣ Διδακτορική Διατριβή Υποβληθείσα στο Τμήμα Χημικών Μηχανικών του Πανεπιστημίου Πατρών Υπό ΙΩΑΝΝΗ ΔΟΝΤΑ του Θεοφάνη Για
JOURNAL OF THE CHINESE CERAMIC SOCIETY. TiO 2 X
40 8 2012 8 Ni-YSZ Sm 0.5 Sr 0.5 Fe 0.8 Cu 0.2 O 3 δ 1215 JOURNAL OF THE CHINESE CERAMIC SOCIETY Vol. 40 No. 8 August 2012 TiO 2 ( 710048) TiO 2 20 30 nm TiO 2 (PVP) TiO 2 X TiO 2 TiO 2 TiO 2 150 250 nm
The Relation between Mobility and Microstructure in OTFT
1. SID 25 2.OLED 3. 4. 5.LED 6. 7.LCD-TV 8. http://www.materialsnet.com.tw The Relation between Mobility and Microstructure in OTFT T.C. Tien J.F. Wen Y.J. Chio L.C. Lin M.W. Lin MRL / ITRI T.S. Hu J.C.
Engineering Tunable Single and Dual Optical. Emission from Ru(II)-Polypyridyl Complexes. Through Excited State Design
Engineering Tunable Single and Dual Optical Emission from Ru(II)-Polypyridyl Complexes Through Excited State Design Supplementary Information Julia Romanova 1, Yousif Sadik 1, M. R. Ranga Prabhath 1,,
Vol. 31,No JOURNAL OF CHINA UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY Feb
Ξ 31 Vol 31,No 1 2 0 0 1 2 JOURNAL OF CHINA UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY Feb 2 0 0 1 :025322778 (2001) 0120016205 (, 230026) : Q ( m 1, m 2,, m n ) k = m 1 + m 2 + + m n - n : Q ( m 1, m 2,, m
Study of In-vehicle Sound Field Creation by Simultaneous Equation Method
Study of In-vehicle Sound Field Creation by Simultaneous Equation Method Kensaku FUJII Isao WAKABAYASI Tadashi UJINO Shigeki KATO Abstract FUJITSU TEN Limited has developed "TOYOTA remium Sound System"
ΜΕΛΕΤΗ ΜΟΡΦΟΛΟΓΙΑΣ ΣΤΕΡΕΩΝ ΥΜΕΝΙΩΝ ΓΙΑ ΦΩΤΟΝΙΟΕΝΕΡΓΕΙΑΚΗ ΑΝΑΒΑΘΜΙΣΗ
Σχολή Μηχανικής και Τεχνολογίας Πτυχιακή εργασία ΜΕΛΕΤΗ ΜΟΡΦΟΛΟΓΙΑΣ ΣΤΕΡΕΩΝ ΥΜΕΝΙΩΝ ΓΙΑ ΦΩΤΟΝΙΟΕΝΕΡΓΕΙΑΚΗ ΑΝΑΒΑΘΜΙΣΗ Βασιλική Ζήνωνος Λεμεσός, Μάϊος 2017 ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΚΟ ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΚΥΠΡΟΥ ΣΧΟΛΗ ΜΗΧΑΝΙΚΗΣ
ω α β χ φ() γ Γ θ θ Ξ Μ ν ν ρ σ σ σ σ σ σ τ ω ω ω µ υ ρ α Coefficient of friction Coefficient of friction 1 0.9 0.8 0.7 0.6 0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 0 0 5 10 15 20 0.90 0.80 0.70 0.60 0.50 0.40 0.30
Supporting information. An unusual bifunctional Tb-MOF for highly sensing of Ba 2+ ions and remarkable selectivities of CO 2 /N 2 and CO 2 /CH 4
Electronic Supplementary Material (ESI) for Journal of Materials Chemistry A. This journal is The Royal Society of Chemistry 2015 Supporting information An unusual bifunctional Tb-MOF for highly sensing
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ΔΡ. ΒΑΣΙΛΕΙΟΣ ΜΠΙΝΑΣ Τμήμα Φυσικής, Πανεπιστήμιο Κρήτης Email: binasbill@iesl.forth.gr Thl. 1269 Crete Center for Quantum Complexity and Nanotechnology Department of Physics, University
ΠΙΝΑΚΕΣ ΠΡΟ ΙΑΓΡΑΦΩΝ ΣΥΜΜΟΡΦΩΣΗΣ
ΠΙΝΑΚΕΣ ΠΡΟ ΙΑΓΡΑΦΩΝ ΣΥΜΜΟΡΦΩΣΗΣ ΑΝΑΛΥΣΗ ΠΙΝΑΚΩΝ ΕΠΕΞΗΓΗΣΕΙΣ Η στήλη Α περιλαµβάνει τις γενικές κατηγορίες των προδιαγραφών χαρακτηριστικών. Η στήλη Β περιλαµβάνει την περιγραφή των ελάχιστων απαιτήσεων
2 PbO 2. Pb 3 O 4 Sn. Ti/SnO 2 -Sb 2 O 4 -CF/PbO x SnO 2 -Sb PbO 2. Sn-Sb 1:1. 1 h. Sn:Sb=10:1. PbO 2 - CeO 2 PbO 2. [8] SnO 2 +Sb 2 O 4 _
41 Vol.41, No. 01 RARE METAL MATERIALS AND ENGINEERING March 01 Pb O 4 PbO ( 710049) SnO -Sb Pb O 4 Pb O 4 100.5 h 970 h XRF XRD SEM Pb O 4 PbO PbO TG146.1 + A 100-185X(01)0-046-05 [1,] 1 PbO PbO Sn-Sb
. O 2 + 2H 2 O + 4e 4OH -
16 1 Vol 16 No 1 2010 2 ELECTROCHEMISTRY Feb 2010 1006-3471 2010 01-0060-05 * 361005 O646 A 1 2 ph > 12 5 2-3 5-7 ph Fe Fe 2 + + 2e Cl - 4 O 2 + 2H 2 O + 4e 4OH - Cl - CO 2 / 8 Cl - CO 2 H 2 O O 2 9-10
FEATURES APPLICATION PRODUCT T IDENTIFICATION PRODUCT T DIMENSION MAG.LAYERS
FEATURES RoHS compliant. Super low resistance, ultra high current rating. High performance (I sat) realized by metal dust core. Frequency Range: up to 1MHz. APPLICATION PDA, notebook, desktop, and server
Ακαδημαϊκό Έτος
Ενόργανες Μέθοδοι Ανάλυσης Ορυκτών Υλών Τεχνικές με μικροδέσμες ηλεκτρονίων Ι ΑΣΚOΝΤΕΣ Ιωάννης Ηλιόπουλος, Επίκουρος Καθηγητής Σταύρος Καλαϊτζίδης, Επίκουρος Καθηγητής Ακαδημαϊκό Έτος 2015-2016 Σύγχρονα
ΣΥΜΠΛΗΡΩΜΑΤΙΚΟ ΥΠΟΜΝΗΜΑ
ΣΥΜΠΛΗΡΩΜΑΤΙΚΟ ΥΠΟΜΝΗΜΑ Γ. Χ. ΨΑΡΡΑΣ ΟΚΤΩΒΡΙΟΣ 2014 2 Στο σύντομο υπόμνημα που ακολουθεί αναφέρονται οι μεταβολές που προέκυψαν από το βασικό υπόμνημα του Μαΐου 2014, που υποβλήθηκε με την υποψηφιότητά
Si + Al Mg Fe + Mn +Ni Ca rim Ca p.f.u
.6.5. y = -.4x +.8 R =.9574 y = - x +.14 R =.9788 y = -.4 x +.7 R =.9896 Si + Al Fe + Mn +Ni y =.55 x.36 R =.9988.149.148.147.146.145..88 core rim.144 4 =.6 ±.6 4 =.6 ±.18.84.88 p.f.u..86.76 y = -3.9 x
ΠΑΝΔΠΗΣΖΜΗΟ ΠΑΣΡΩΝ ΓΗΑΣΜΖΜΑΣΗΚΟ ΠΡΟΓΡΑΜΜΑ ΜΔΣΑΠΣΤΥΗΑΚΩΝ ΠΟΤΓΩΝ «ΤΣΖΜΑΣΑ ΔΠΔΞΔΡΓΑΗΑ ΖΜΑΣΩΝ ΚΑΗ ΔΠΗΚΟΗΝΩΝΗΩΝ» ΣΜΖΜΑ ΜΖΥΑΝΗΚΩΝ Ζ/Τ ΚΑΗ ΠΛΖΡΟΦΟΡΗΚΖ
ΠΑΝΔΠΗΣΖΜΗΟ ΠΑΣΡΩΝ ΓΗΑΣΜΖΜΑΣΗΚΟ ΠΡΟΓΡΑΜΜΑ ΜΔΣΑΠΣΤΥΗΑΚΩΝ ΠΟΤΓΩΝ «ΤΣΖΜΑΣΑ ΔΠΔΞΔΡΓΑΗΑ ΖΜΑΣΩΝ ΚΑΗ ΔΠΗΚΟΗΝΩΝΗΩΝ» ΣΜΖΜΑ ΜΖΥΑΝΗΚΩΝ Ζ/Τ ΚΑΗ ΠΛΖΡΟΦΟΡΗΚΖ ΣΜΖΜΑ ΖΛΔΚΣΡΟΛΟΓΩΝ ΜΖΥΑΝΗΚΩΝ ΚΑΗ ΣΔΥΝΟΛΟΓΗΑ ΤΠΟΛΟΓΗΣΩΝ ΣΜΖΜΑ
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ΔΡ. ΒΑΣΙΛΕΙΟΣ ΜΠΙΝΑΣ Post Doc Researcher, Chemist Τμήμα Φυσικής, Πανεπιστήμιο Κρήτης Email: binasbill@iesl.forth.gr Thl. 1269 Crete Center for Quantum Complexity and Nanotechnology
J. of Math. (PRC) 6 n (nt ) + n V = 0, (1.1) n t + div. div(n T ) = n τ (T L(x) T ), (1.2) n)xx (nt ) x + nv x = J 0, (1.4) n. 6 n
Vol. 35 ( 215 ) No. 5 J. of Math. (PRC) a, b, a ( a. ; b., 4515) :., [3]. : ; ; MR(21) : 35Q4 : O175. : A : 255-7797(215)5-15-7 1 [1] : [ ( ) ] ε 2 n n t + div 6 n (nt ) + n V =, (1.1) n div(n T ) = n
HIV HIV HIV HIV AIDS 3 :.1 /-,**1 +332
,**1 The Japanese Society for AIDS Research The Journal of AIDS Research +,, +,, +,, + -. / 0 1 +, -. / 0 1 : :,**- +,**. 1..+ - : +** 22 HIV AIDS HIV HIV AIDS : HIV AIDS HIV :HIV AIDS 3 :.1 /-,**1 HIV
A facile and general route to 3-((trifluoromethyl)thio)benzofurans and 3-((trifluoromethyl)thio)benzothiophenes
Electronic Supplementary Material (ESI) for ChemComm. This journal is The Royal Society of Chemistry 2014 A facile and general route to 3-((trifluoromethyl)thio)benzofurans and 3-((trifluoromethyl)thio)benzothiophenes
ΝΑΝΟΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΓΙΩΡΓΟΣ ΤΣΙΓΑΡΙΔΑΣ. E-mail: gtsigaridas@teilam.gr
ΝΑΝΟΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΓΙΩΡΓΟΣ ΤΣΙΓΑΡΙΔΑΣ E-mail: gtsigaridas@teilam.gr ΕΙΣΑΓΩΓΙΚΑ Η ΕΞΕΛΙΞΗ ΤΗΣ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗΣ ΟΔΗΓΕΙ ΣΤΗΝ ΑΝΑΠΤΥΞΗ ΔΙΑΤΑΞΕΩΝ ΣΕ ΟΛΟΕΝΑ ΚΑΙ ΜΙΚΡΟΤΕΡΗ ΚΛΙΜΑΚΑ ΜΕ ΑΠΟΤΕΛΕΣΜΑ ΝΑ ΜΗΝ ΙΣΧΥΟΥΝ ΠΛΕΟΝ
Development of Accurate Quantitative Analytical Methods to Determine Trace Amounts of Carbon, Sulfur, and Oxygen in Steel
JFE No. 13 26 8 p. 29 34 Development of Accurate Quantitative Analytical Methods to Determine Trace Amounts of Carbon, Sulfur, and Oxygen in Steel YASUHARA Hisao MIYAGI Chiyoko JFE Ph.D. JFE Abstract:
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης Σχολή Θετικών Επιστημών Τμήμα Χημείας
Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης Σχολή Θετικών Επιστημών Τμήμα Χημείας ΒΑΣΙΛΕΙΟΣ Δ. ΚΑΡΑΒΕΛΙΔΗΣ ΠΤΥΧΙΟΥΧΟΣ ΧΗΜΙΚΟΣ ΠΑΡΑΣΚΕΥΗ ΝΑΝΟΣΩΜΑΤΙΔΙΩΝ ΤΥΠΟΥ CORE-SHELL ΓΙΑ ΤΗ ΣΤΟΧΕΥΜΕΝΗ ΑΠΟΔΕΣΜΕΥΣΗ ΤΟΥ ΑΝΤΙΚΑΡΚΙΝΙΚΟΥ
Μέθοδοι και Εφαρµογές Πυρηνικής Επιστήµης και Ακτινοφυσικής
Μέθοδοι και Εφαρµογές Πυρηνικής Επιστήµης και Ακτινοφυσικής Οµάδα Εφαρµοσµένης Πυρηνικής Επιστήµης και Ακτινοφυσικής Σκοπός Έρευνα και Ανάπτυξη στις εφαρµογές της Πυρηνικής Επιστήµης και Ακτινοφυσικής
18/1/ /1/2016 2
Μέθοδοι Έρευνας Ορυκτών και Πετρωμάτων Τεχνικές με μικροδέσμες ηλεκτρονίων Σύγχρονα όργανα Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (scanning electron microscope, SEM) Ηλεκτρονικός μικροαναλυτής (electron microprobe,
Ελαφρές κυψελωτές πλάκες - ένα νέο προϊόν για την επιπλοποιία και ξυλουργική. ΒΑΣΙΛΕΙΟΥ ΒΑΣΙΛΕΙΟΣ και ΜΠΑΡΜΠΟΥΤΗΣ ΙΩΑΝΝΗΣ
Ελαφρές κυψελωτές πλάκες - ένα νέο προϊόν για την επιπλοποιία και ξυλουργική ΒΑΣΙΛΕΙΟΥ ΒΑΣΙΛΕΙΟΣ και ΜΠΑΡΜΠΟΥΤΗΣ ΙΩΑΝΝΗΣ Αριστοτέλειο Πανεπιστήµιο Θεσσαλονίκης Σχολή ασολογίας και Φυσικού Περιβάλλοντος,
X-Y COUPLING GENERATION WITH AC/PULSED SKEW QUADRUPOLE AND ITS APPLICATION
X-Y COUPLING GENERATION WITH AC/PULSED SEW QUADRUPOLE AND ITS APPLICATION # Takeshi Nakamura # Japan Synchrotron Radiation Research Institute / SPring-8 Abstract The new method of x-y coupling generation
Development of a Seismic Data Analysis System for a Short-term Training for Researchers from Developing Countries
No. 2 3+/,**, Technical Research Report, Earthquake Research Institute, University of Tokyo, No. 2, pp.3+/,,**,. * * Development of a Seismic Data Analysis System for a Short-term Training for Researchers
CorV CVAC. CorV TU317. 1
30 8 JOURNAL OF VIBRATION AND SHOCK Vol. 30 No. 8 2011 1 2 1 2 2 1. 100044 2. 361005 TU317. 1 A Structural damage detection method based on correlation function analysis of vibration measurement data LEI
Bureau Veritas Training Schedule 2009 Athens
Bureau Veritas Training Schedule 2009 Athens BV Issue: Dec.08 January Days/Ηµέρες 12-15 Advanced Vetting Inspections 4 Προηγµένο Σεµινάριο Ελέγχου εξαµενοπλοίων 20-21 Doing Business in Multicultural Environment
Supporting Information. Enhanced energy storage density and high efficiency of lead-free
Supporting Information Enhanced energy storage density and high efficiency of lead-free CaTiO 3 -BiScO 3 dielectric ceramics Bingcheng Luo 1, Xiaohui Wang 1*, Enke Tian 2, Hongzhou Song 3, Hongxian Wang
Αξιολόγηση Ημιαγώγιμων Υμενίων Σεληνιούχου Καδμίου Σε Υπόστρωμα Νικελίου Για Φωτοβολταϊκές Εφαρμογές
ΕΘΝΙΚΟ ΜΕΤΣΟΒΙΟ ΠΟΛΥΤΕΧΝΕΙΟ ΣΧΟΛΗ ΗΛΕΚΤΡΟΛΟΓΩΝ ΜΗΧΑΝΙΚΩΝ ΚΑΙ ΜΗΧΑΝΙΚΩΝ ΥΠΟΛΟΓΙΣΤΩΝ ΤΟΜΕΑΣ ΣΥΣΤΗΜΑΤΩΝ ΜΕΤΑΔΟΣΗΣ ΠΛΗΡΟΦΟΡΙΑΣ ΚΑΙ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑΣ ΥΛΙΚΩΝ Αξιολόγηση Ημιαγώγιμων Υμενίων Σεληνιούχου Καδμίου Σε Υπόστρωμα
«ΑΝΑΠΣΤΞΖ ΓΠ ΚΑΗ ΥΩΡΗΚΖ ΑΝΑΛΤΖ ΜΔΣΔΩΡΟΛΟΓΗΚΩΝ ΓΔΓΟΜΔΝΩΝ ΣΟΝ ΔΛΛΑΓΗΚΟ ΥΩΡΟ»
ΓΔΩΠΟΝΗΚΟ ΠΑΝΔΠΗΣΖΜΗΟ ΑΘΖΝΩΝ ΣΜΗΜΑ ΑΞΙΟΠΟΙΗΗ ΦΤΙΚΩΝ ΠΟΡΩΝ & ΓΕΩΡΓΙΚΗ ΜΗΥΑΝΙΚΗ ΣΟΜΕΑ ΕΔΑΦΟΛΟΓΙΑ ΚΑΙ ΓΕΩΡΓΙΚΗ ΥΗΜΕΙΑ ΕΙΔΙΚΕΤΗ: ΕΦΑΡΜΟΓΕ ΣΗ ΓΕΩΠΛΗΡΟΦΟΡΙΚΗ ΣΟΤ ΦΤΙΚΟΤ ΠΟΡΟΤ «ΑΝΑΠΣΤΞΖ ΓΠ ΚΑΗ ΥΩΡΗΚΖ ΑΝΑΛΤΖ ΜΔΣΔΩΡΟΛΟΓΗΚΩΝ
Νανοσύνθετα πολυαιθυλενίου υψηλής πυκνότητας (HDPE) / νανοϊνών χαλκού (Cu-nanofibers) με βελτιωμένη σταθερότητα στην υπεριώδη ακτινοβολία
ΑΡΙΣΤΟΤΕΛΕΙΟ ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΘΕΣΣΑΛΟΝΙΚΗΣ ΣΧΟΛΗ ΘΕΤΙΚΩΝ ΕΠΙΣΤΗΜΩΝ ΤΜΗΜΑ ΦΥΣΙΚΗΣ Πρόγραμμα Μεταπτυχιακών Σπουδών ΦΥΣΙΚΗΣ ΚΑΙ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑΣ ΥΛΙΚΩΝ Νανοσύνθετα πολυαιθυλενίου υψηλής πυκνότητας (HDPE) / νανοϊνών
Butadiene as a Ligand in Open Sandwich Compounds
Electronic Supplementary Material (ESI) for Physical Chemistry Chemical Physics. This journal is the Owner Societies 2018 Butadiene as a Ligand in Open Sandwich Compounds Qunchao Fan, a Jia Fu, a Huidong
Feasible Regions Defined by Stability Constraints Based on the Argument Principle
Feasible Regions Defined by Stability Constraints Based on the Argument Principle Ken KOUNO Masahide ABE Masayuki KAWAMATA Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering, Tohoku University
2 1, 2 A 2F 10 : : 00 1A01 C 4F B 5F 10 : : 40 1B01 1C01 1A02 1C02 BC2N 1B02 1B04. 1A03 C/N Fe 1C03. 1C04 DNA Somlak Ittisanronnnachai
A 2F 10 : 0012 : 00 1A01 1A02 1 2 1 1 1 2 2 2 2 1A03 C/N Fe 1A04 1A05 EDL 1 2 1 2 2 1 1 1 1A06 12 1 B 10 : 0011 : 40 1B01 1B02 / 1B04 1 2 1 2 1 1 1 1 1, 2 1B05 1 2 1 2 1 1B06 N- 1 2 1, 2 1 CHA IN OH 1
Πτυχιακή Εργασι α «Εκτι μήσή τής ποιο τήτας εικο νων με τήν χρή σή τεχνήτων νευρωνικων δικτυ ων»
Ανώτατο Τεχνολογικό Εκπαιδευτικό Ίδρυμα Ανατολικής Μακεδονίας και Θράκης Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών Τμήμα Μηχανικών Πληροφορικής Πτυχιακή Εργασι α «Εκτι μήσή τής ποιο τήτας εικο νων με τήν χρή σή τεχνήτων
Polymer-Based Composites with High Dielectric Constant and Low Dielectric Loss
22 8 2010 8 PROGRESS IN CHEMISTRY Vol. 22 No. 8 Aug. 2010 * 430070 TB33 TM215. 92 A 1005-281X 2010 08-1619-07 Polymer-Based Composites with High Dielectric Constant and Low Dielectric Loss Lu Pengjian
Gro wth Properties of Typical Water Bloom Algae in Reclaimed Water
31 1 2010 1 ENVIRONMENTAL SCIENCE Vol. 31,No. 1 Jan.,2010, 3, (,, 100084) :,.,, ( Microcystis aeruginosa),3 (A 2 O ) 10 6 ml - 1,> 0139 d - 1. A 2 O222,. TP ( K max ) ( R max ), Monod. :; ; ; ; :X173 :A
ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΚΟ ΕΚΠΑΙΔΕΥΤΙΚΟ ΙΔΡΥΜΑ ΚΡΗΤΗΣ ΣΧΟΛΗ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΚΩΝ ΕΦΑΡΜΟΓΩΝ ΤΜΗΜΑ ΗΛΕΚΤΡΟΛΟΓΙΑΣ ΠΤΥΧΙΑΚΗ ΕΡΓΑΣΙΑ
ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΚΟ ΕΚΠΑΙΔΕΥΤΙΚΟ ΙΔΡΥΜΑ ΚΡΗΤΗΣ ΣΧΟΛΗ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΚΩΝ ΕΦΑΡΜΟΓΩΝ ΤΜΗΜΑ ΗΛΕΚΤΡΟΛΟΓΙΑΣ ΠΤΥΧΙΑΚΗ ΕΡΓΑΣΙΑ ΑΝΑΛΥΣΗ ΜΟΡΦΟΛΟΓΙΑΣ ΕΠΙΦΑΝΕΙΑΣ ΜΕ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ΣΑΡΩΣΗΣ ΣΠΟΥΔΑΣΤΗΣ : Γλέζος Παντελής ΕΙΣΗΓΗΤΗΣ:
High Speed, Low Loss Multi-layer Materials
Data Sheet High Speed, Low Loss Multilayer Materials Laminate R5725 Prepreg R5620 UL/ANSI IPC4101 Slash Sheet FR4 Primary:/91 Secondary:/102(*) Jul. 2013 No.13070132 No.; 130701321 Property Units Test
MATSEC Intermediate Past Papers Index L. Bonello, A. Vella
2009 MATSEC Intermediate Past Papers Index Louisella Bonello Antonia Vella The Junior College Physics Department 2009 MATSEC INTERMEDIATE PAST PAPERS INDEX WITH ANSWERS TO NUMERICAL PROBLEMS by Louisella
Table of contents. 1. Introduction... 4
Table of contents 0. Motivation.... 1 1. Introduction... 4 2. Inclusion compounds of [Al(OH)(bdc)] n and [V(O)(bdc)] n... 11 2.1 [(η 5 -C 5 H 5 ) 2 Fe] 0.5 @MIL-53(Al) and [(η 5 -C 5 H 5 ) 2 Co] 0.25 @MIL-53(Al)
ΙΕΥΘΥΝΤΗΣ: Καθηγητής Γ. ΧΡΥΣΟΛΟΥΡΗΣ Ι ΑΚΤΟΡΙΚΗ ΙΑΤΡΙΒΗ
ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΠΑΤΡΩΝ ΠΟΛΥΤΕΧΝΙΚΗ ΣΧΟΛΗ ΤΜΗΜΑ ΜΗΧΑΝΟΛΟΓΩΝ ΚΑΙ ΑΕΡΟΝΑΥΠΗΓΩΝ ΜΗΧΑΝΙΚΩΝ ΕΡΓΑΣΤΗΡΙΟ ΣΥΣΤΗΜΑΤΩΝ ΠΑΡΑΓΩΓΗΣ & ΑΥΤΟΜΑΤΙΣΜΟΥ / ΥΝΑΜΙΚΗΣ & ΘΕΩΡΙΑΣ ΜΗΧΑΝΩΝ ΙΕΥΘΥΝΤΗΣ: Καθηγητής Γ. ΧΡΥΣΟΛΟΥΡΗΣ Ι ΑΚΤΟΡΙΚΗ
Contents X-ray Fluorescence (XRF) and Particle-Induced X-ray Emission (PIXE)
Contents 1 X-ray Fluorescence (XRF) and Particle-Induced X-ray Emission (PIXE)... 1 1.1 Introduction............................................ 1 1.2 PrincipleofXRFandPIXETechniques... 2 1.3 Theory and
Abstract Storage Devices
Abstract Storage Devices Robert König Ueli Maurer Stefano Tessaro SOFSEM 2009 January 27, 2009 Outline 1. Motivation: Storage Devices 2. Abstract Storage Devices (ASD s) 3. Reducibility 4. Factoring ASD
Phase Segregation of ZnO / ZnMgO Superlattice Affected by Ⅱ-Ⅵ Ratio
35 5 214 5 CHINESE JOURNAL OF LUMINESCENCE Vol. 35 No. 5 May 214 1-732 214 5-526-5 Ⅱ-Ⅵ ZnO /ZnMgO * 3615 Zn 1 - x Mg x O x =. 4 ~. 6 c ZnO /ZnMgO Ⅱ-Ⅵ X X MgZnO ZnO Ⅱ-Ⅵ O484. 4 A DOI 1. 3788 /fgxb214355.
VSC STEADY2STATE MOD EL AND ITS NONL INEAR CONTROL OF VSC2HVDC SYSTEM VSC (1. , ; 2. , )
22 1 2002 1 Vol. 22 No. 1 Jan. 2002 Proceedings of the CSEE ν 2002 Chin. Soc. for Elec. Eng. :025828013 (2002) 0120017206 VSC 1, 1 2, (1., 310027 ; 2., 250061) STEADY2STATE MOD EL AND ITS NONL INEAR CONTROL
DAMPING CROSS-REFERENCE
AMPING CROSS-REFERENCE There are at least eleven parameters commonly used to express damping. Cross-reference formulas are given in Tables A through C. The formulas are taken from Reference. Let be the
Δομική και Χημική Ανάλυση Υλικών
Δομική και Χημική Ανάλυση Υλικών Κεφάλαιο 9 (9 η Διάλεξη) Φασματοσκοπία φθορισμού Ηλεκτρονική μικροσκοπία Βιβλιογραφία 1) Αρχές Ενόργανης Ανάλυσης, Skoog, Holler, Crouch, Έκτη Έκδοση, Εκδόσεις Κωσταράκη,
4 th SE European CODE Workshop 10 th 11 th of March 2011, Thessaloniki, Greece
4 th SE European CODE Workshop 10 th 11 th of March 2011, Thessaloniki, Greece SESSION II: Best case Cogeneration project(s) in Greece Dimitris Miras Head of Thermo-electric Power Projects Dpt, ITA Group
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ΔΡ. ΒΑΣΙΛΕΙΟΣ ΜΠΙΝΑΣ Τμήμα Φυσικής, Πανεπιστήμιο Κρήτης Email: binasbill@iesl.forth.gr Thl. 1269 Crete Center for Quantum Complexity and Nanotechnology Department of Physics, University
H Φυσική Στερεάς Κατάστασης της εποχή της Νανοτεχνολογίας: Επιστημονικές και επαγγελματικές προοπτικές
Τμήμα Φυσικής Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων Καθηγητής Γιάννης Δεληγιαννάκης H Φυσική Στερεάς Κατάστασης της εποχή της Νανοτεχνολογίας: Επιστημονικές και επαγγελματικές προοπτικές 2-Οκτωβρίου-2014 Ενημέρωση Πρωτοετών
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ΔΡ. ΒΑΣΙΛΕΙΟΣ ΜΠΙΝΑΣ Τμήμα Φυσικής, Πανεπιστήμιο Κρήτης Email: binasbill@iesl.forth.gr Thl. 1269 Crete Center for Quantum Complexity and Nanotechnology Department of Physics, University
Σύνθεση και Χαρακτηρισµός Χαµηλοδιάστατων Ηµιαγωγών Αλογονιδίων του Μολύβδου και Χαλκογενιδίων.
ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΠΑΤΡΩΝ ΣΧΟΛΗ ΘΕΤΙΚΩΝ ΕΠΙΣΤΗΜΩΝ ΤΜΗΜΑ ΕΠΙΣΤΗΜΗΣ ΤΩΝ ΥΛΙΚΩΝ ΜΕΤΑΠΤΥΧΙΑΚΗ ΕΡΓΑΣΙΑ ΕΙ ΙΚΕΥΣΗΣ Στα Πλαίσια του Προγράµµατος Μεταπτυχιακών Σπουδών στην «Επιστήµη των Υλικών» Σύνθεση και Χαρακτηρισµός
Modbus basic setup notes for IO-Link AL1xxx Master Block
n Modbus has four tables/registers where data is stored along with their associated addresses. We will be using the holding registers from address 40001 to 49999 that are R/W 16 bit/word. Two tables that
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ΔΡ. ΒΑΣΙΛΕΙΟΣ ΜΠΙΝΑΣ Post Doc Researcher, Chemist Τμήμα Φυσικής, Πανεπιστήμιο Κρήτης Email: binasbill@iesl.forth.gr Thl. 1269 Crete Center for Quantum Complexity and Nanotechnology
Q L -BFGS. Method of Q through full waveform inversion based on L -BFGS algorithm. SUN Hui-qiu HAN Li-guo XU Yang-yang GAO Han ZHOU Yan ZHANG Pan
3 2015 12 GLOBAL GEOLOGY Vol. 3 No. Dec. 2015 100 5589 2015 0 1106 07 L BFGS Q 130026 Q 2D L BFGS Marmousi Q L BFGS P631. 3 A doi 10. 3969 /j. issn. 1005589. 2015. 0. 02 Method of Q through full waveform
ΕΡΓΑΣΤΗΡΙΑΚΗ ΑΣΚΗΣΗ 1 ΑΠΕΙΚΟΝΙΣΤΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ
ΕΡΓΑΣΤΗΡΙΑΚΗ ΑΣΚΗΣΗ 1 ΑΠΕΙΚΟΝΙΣΤΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ 1. Το Μικροσκόπιο Το μικροσκόπιο είναι όργανο, σχεδιασμένο να δημιουργεί μεγεθυμένες εικόνες μικρών αντικειμένων, να διαχωρίζει λεπτομέρειες της εικόνας
Supporting Information
Supporting Information Aluminum Complexes of N 2 O 2 3 Formazanate Ligands Supported by Phosphine Oxide Donors Ryan R. Maar, Amir Rabiee Kenaree, Ruizhong Zhang, Yichen Tao, Benjamin D. Katzman, Viktor
.. ƒ²μ É, Œ. Œ Ï,. Š. μé ±μ,..,.. ³ μ μ, ƒ.. ÒÌ
13-2016-82.. ƒ²μ É, Œ. Œ Ï,. Š. μé ±μ,..,.. ³ μ μ, ƒ.. ÒÌ ˆ Œ ˆŸ Š Š Š ( ) ƒ ˆ ˆ ˆŒ Œ Ÿ Š Œ Š ˆŒ NA62. I. ˆ Œ ˆŸ Ÿ Œ ² μ Ê ² μ Ò É Ì ± Ô± ³ É ƒ²μ É... 13-2016-82 ² ³ Éμ μ²μ Ö μ ÒÌ μ μ²μ± Éμ ±μ É ÒÌ Ëμ
Auto Daylight Synchro (Αυτόματος Συγχρονισμός Φωτός ημέρας) Clear Photo LCD
A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z 1-9 Κλείδωμα AE Τεχνολογία AGCS AR Coat (Επικάλυψη AR) Auto Review Cancel (Ακύρωση Αυτόματης ανασκόπησης) AF Illuminator (Φωτιστής ΑF) Διάφραγμα Auto
CdS/ CdTe 3. Cd Te. SnO2 F/,, ( XPS) (300. ( %,Johnson2Matt hey) Cd Te ( %, Johnson2Matt hey), Ev = 0193eV [1 ]., Ev =
26 6 2005 6 CHIN ESE J OURNAL OF SEMICONDUCTORS Vol. 26 No. 6 J une,2005 CdS/ CdTe 3 1 2 2 2 (1, 610031) (2, 610064) : CdS Cd Te,. (001) CdS/ Cd Te,. CdS/ Cd Te EV = 01 98eV 0105eV, Ec = 0107 01 1eV. :
ΜΕΛΕΤΗ ΤΗΣ ΠΛΑΣΤΙΚΟΤΗΤΑΣ ΑΡΓΙΛΟΥΧΩΝ ΜΙΓΜΑΤΩΝ ΜΕ ΠΡΟΣΘΗΚΗ ΣΙΔΗΡΑΛΟΥΜΙΝΑΣ ΑΠΟ ΤΗ ΔΙΕΡΓΑΣΙΑ BAYER
Πρακτικά 1ου Πανελληνίου Συνεδρίου για την Αξιοποίηση των Βιομηχανικών Παραπροϊόντων στη Δόμηση, ΕΒΙΠΑΡ, Θεσσαλονίκη, 24-26 Νοεμβρίου 2005 ΜΕΛΕΤΗ ΤΗΣ ΠΛΑΣΤΙΚΟΤΗΤΑΣ ΑΡΓΙΛΟΥΧΩΝ ΜΙΓΜΑΤΩΝ ΜΕ ΠΡΟΣΘΗΚΗ ΣΙΔΗΡΑΛΟΥΜΙΝΑΣ
SUPPLEMENTAL INFORMATION. Fully Automated Total Metals and Chromium Speciation Single Platform Introduction System for ICP-MS
Electronic Supplementary Material (ESI) for Journal of Analytical Atomic Spectrometry. This journal is The Royal Society of Chemistry 2018 SUPPLEMENTAL INFORMATION Fully Automated Total Metals and Chromium
ST5224: Advanced Statistical Theory II
ST5224: Advanced Statistical Theory II 2014/2015: Semester II Tutorial 7 1. Let X be a sample from a population P and consider testing hypotheses H 0 : P = P 0 versus H 1 : P = P 1, where P j is a known
Calculating the propagation delay of coaxial cable
Your source for quality GNSS Networking Solutions and Design Services! Page 1 of 5 Calculating the propagation delay of coaxial cable The delay of a cable or velocity factor is determined by the dielectric
(Mechanical Properties)
109101 Engineering Materials (Mechanical Properties-I) 1 (Mechanical Properties) Sheet Metal Drawing / (- Deformation) () 3 Force -Elastic deformation -Plastic deformation -Fracture Fracture 4 Mode of
Research on mode-locked optical fiber laser
2003 6 20 Research on mode-locked optical fiber laser 1 36303 Abstract- For future ultrahigh-speed optical communications, an ultrashort optical pulse train at a high repetitionrate will be indispensable.
Supporting Information
Electronic Supplementary Material (ESI) for New Journal of Chemistry. This journal is The Royal Society of Chemistry and the Centre National de la Recherche Scientifique 2017 Supporting Information Palladium
Applications Coaxial cables for high frequency. Coaxial cables from 50 Ω to 95 Ω. Construction
Standard coaxial cables KX & RG coaxial cables KX/RG Applications Coaxial cables for high frequency connections. Coaxial cables from 50 Ω to 95 Ω Construction 1- CONDUCTOR Stranded or solid, in bare copper
Elements of Information Theory
Elements of Information Theory Model of Digital Communications System A Logarithmic Measure for Information Mutual Information Units of Information Self-Information News... Example Information Measure
3D-Deconvolution. Πριν την εφαρµογή του λογισµικού για 3D deconvolution: 1. Λήψη της εικόνας
3D-Deconvolution Το λογισµικό 3D deconvolution είναι µία µέθοδος ανάλυσης ψηφιακής εικόνας µε την οποία αποµακρύνεται σήµα που οφείλεται σε φθορισµό εκτός εστίασης (out-of-focus light) από εικόνες που
상대론적고에너지중이온충돌에서 제트입자와관련된제동복사 박가영 인하대학교 윤진희교수님, 권민정교수님
상대론적고에너지중이온충돌에서 제트입자와관련된제동복사 박가영 인하대학교 윤진희교수님, 권민정교수님 Motivation Bremsstrahlung is a major rocess losing energies while jet articles get through the medium. BUT it should be quite different from low energy