Ειδικές Φασματοχημικές Τεχνικές ΑΤΟΜΙΚΗ ΦΑΣΜΑΤΟΜΕΤΡΙΑ

Transcript

1 Ειδικές Φασματοχημικές Τεχνικές ΑΤΟΜΙΚΗ ΦΑΣΜΑΤΟΜΕΤΡΙΑ 1 Ατομική Φασματομετρία: Αλληλεπίδραση ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας με άτομα ΣΤΟΙΧΕΙΑΚΗ ΑΝΑΛΥΣΗ Το δείγμα εκτίθεται σε θερμική ή ηλεκτρική ενέργεια: Εξαέρωση Ατομοποίηση Διέγερση με επιπλέον ενέργεια και εκπομπή χαρακτηριστικής ακτινοβολίας (ΑΕS) Απορρόφηση μονοχρωματικής ακτινοβολίας (AAS) Διέγερση με τη βοήθεια ακτινοβολίας και εκπομπή ατομικού φθορισμού (AFS) 2 1

2 Πηγές που χρησιμοποιούνται για ατομοποίηση: Φλόγα Ηλεκτρικά θερμαινόμενος φούρνος γραφίτη Επαγωγικά συζευγμένο πλάσμα αργού Ηλεκτρικό τόξο ή σπινθήρας εκκένωσης συνεχούς ή εναλλασσόμενου ρεύματος 3 Διεργασίες 4 2

3 ATOMIKH ΦΑΣΜΑΤΟΣΚΟΠΙΑ 5 ΤΕΧΝΙΚΕΣ: Φασματομετρία Ατομικής Απορρόφησης (AAS: FAAS, ETAAS, HGAAS, CVAAS, κ.ά.) Φλογοφωτομετρία Ατομικής Εκπομπής (FAES) Ατομικός Φθορισμός (AFS) Φασματομετρία Ατομικής Εκπομπής σε επαγωγικά συζευγμένο πλάσμα (ICP-AES) Φασματομετρία ατομικών μαζών σε επαγωγικά συζευγμένο πλάσμα (ICP-ΜS) 6 3

4 ATOMIKH ΦΑΣΜΑΤΟΣΚΟΠΙΑ ΑΠΑΡΑΙΤΗΤΕΣ ΓΝΩΣΕΙΣ: D.A. Skoog, F.J. Holler, T.A. Nieman «Αρχές της Ενόργανης Ανάλυσης», Eκδόσεις Kωσταράκη, Αθήνα, 2002: Κεφ ΑΤΟΜΙΚΟ ΦΑΣΜΑ hc λ1 = ( E E λ < λ ) Ζn SO 2 ΜΟΡΙΑΚΟ ΦΑΣΜΑ 8 4

5 ΑΤΟΜΙΚΕΣ ΓΡΑΜΜΕΣ: ΔΙΕΥΡΥΝΣΗ ΑΤΟΜΙΚΩΝ ΓΡΑΜΜΩΝ: ΦΥΣΙΚΗ ΔΙΕΥΡΥΝΣΗ ΦΑΙΝΟΜΕΝΟ DOPPLER ΕΠΙΔΡΑΣΗ ΠΙΕΣΗΣ ΚΑΙ ΣΥΓΚΡΟΥΣΕΩΝ (LORENTZ) ΕΠΙΔΡΑΣΗ ΜΑΓΝΗΤΙΚΟΥ ΠΕΔΙΟΥ (ΦΑΙΝΟΜΕΝΟ ZEEMAN) 9 ΕΠΙΔΡΑΣΗ ΤΗΣ ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΑΣ ΣΤΑ ΦΑΣΜΑΤΑ Κατανομή Boltzmann: N N O λόγος N j /N o : j o g = g j o ΔΕ exp( kt j ) Αυξάνεται με αύξηση της Τ Μειώνεται εκθετικά με ελάττωση του λ 10 5

6 ΕΠΙΔΡΑΣΗ ΤΗΣ ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΑΣ ΣΤΑ ΦΑΣΜΑΤΑ Η ευαισθησία των μεθόδων ΑΕ αυξάνεται όσο το λ είναι μεγαλύτερο (αλκάλια και αλκαλικές γαίες) 1. Ν j <<N o (Ν i AES, ενώ Ν ο AAS) 2. Μικρή μεταβολή στην Τ επηρεάζει σημαντικά την ισχύ της ΑΕ 11 Πολυστοιχειακή Φασματομετρία Ατομικής Απορρόφησης (SIMAA) 4-6 στοιχεία προσδιορίζονται ταυτόχρονα THGA Ανιχνευτής στερεάς κατάστασης: 60 Φωτοδίοδοι Μονοχρωμάτορας echelle 12 6

7 Φασματομετρία Ατομικής Εκπομπής με Επαγωγικά Συζευγμένο Πλάσμα Αργού (Inductively Coupled Plasma AES - ICP AES) Πλάσμα: αεριώδες, ηλεκτρικά αγώγιμο μίγμα κατιόντων και e - Πυρσός πλάσματος (Plasma torch) i. Μεταφορά αερολύματος δείγματος με ρεύμα Ar ii. Επαγωγικό πηνίο RF iii. Μαγνητικό πεδίο iv. Βοηθητική ροή Ar v. Εφαπτομενική βοηθητική ροή Ar ήν 2 13 Διεργασίες στο πλάσμα Κατανομή θερμοκρασιών στο πλάσμα i. Αποδιαλύτωση σχηματισμός αερολύματος ii. Ατομοποίηση iii. Διέγερση iv. Ιοντισμός Οι θερμοκρασίες είναι 2-3 φορές υψηλότερες από τις τεχνικές φλόγας Δενυπάρχουνχημικές παρεμποδίσεις (χημικά αδρανές περιβάλλον) Δενυπάρχουνπαρεμποδίσεις ιοντισμού (περίσσεια e - από τον ιοντισμό του Ar) Δεν υπάρχει αυτοαπορρόφηση Μεγάλες γραμμικές περιοχές 14 7

8 ΟΡΓΑΝΟΛΟΓΙΑ ICP-AES Συστήματα εισαγωγής δείγματος Φασματόμετρα-Μονοχρωμάτορες 15 Εισαγωγή δείγματος στην ICP-AES ΕΚΝΕΦΩΤΕΣ Εκνεφωτής υπερήχων Παραγωγή υδριδίων (HG) Ηλεκτροθερμικοί εξαερωτές (ETV) Στερεά δείγματα } Αποσύνθεση με λέιζερ (laser ablasion, LA) 16 8

9 Φασματόμετρα ICP AES Επιθυμητές ιδιότητες φασματομέτρου εκπομπής με ICP: 1. Υψηλή διακριτική ικανότητα (0,01 nm ήλ/δλ>100000) 2. Ταχεία συλλογή και επεξεργασία δεδομένων 3. Χαμηλή παράσιτη ακτινοβολία 4. Μεγάλη δυναμική περιοχή 5. Ακριβής και επαναλήψιμη αναγνώριση και επιλογή λ 6. Επαναλήψιμες μετρήσεις (<1% RSD σε C=500 LOD) 7. Υψηλή σταθερότητα 8. Εύκολη διόρθωση υποβάθρου 9. Λειτουργία με Η/Υ 17 Φασματόμετρα ICP AES Όργανα αλληλουχίας (sequential ICP) Παράλληλα πολυδιαυλικά όργανα (simultaneous ICP) Όργανα μετασχηματισμού Fourier Radial-View Axial-View 18 9

10 Πολυδιαυλικά φασματόμετρα ICP AES Μονοχρωμάτορες echelle: Ανιχνευτές μεταφοράς φορτίου: Μεταλλάκτης έκχυσης φορτίου (CID) Μεταλλάκτης σύζευξης φορτίου (CCD) 19 Περίθλαση από φράγμα Echelle Επειδή το φράγμα echelle χρησιμοποιείται με πολύ μεγάλες τάξεις, τα μήκη κύματος σε μια τάξη διασπείρονται σημαντικά Order = 5 Η μέγιστη διασπορά επιτυγχάνεται σε μεγάλες τάξεις περίθλασης (εκεί όπου η γωνία ανάκλασης ταυτίζεται με τη γωνία πρόσπτωσης) Zero Order Order = 28 to 127 (depending on λ) Προσπίπτουσα hv Περιθλώμενη hv Γωνία ανάκλασης φράγματος Echelle Η γωνία ανάκλασης στο φράγμα Echelle καθορίζεται από μηχανικό οδηγό έτσι ώστε το επιθυμητό λ της κατάλληλης τάξης να οδηγείται στο πρίσμα 20 10

11 Διασπορά λ από το πρίσμα Προς καθρέπτη ανιχνευτή Η διασπορά του λ στο πρίσμα είναι σημαντικά χαμηλότερη από ότι στο φράγμα Echelle Χρησιμοποιείται μόνο για να αποφευχθούν επικαλύψεις θ r4 = Η γωνία του επίπεδου καθρέπτη του πρίσματος ρυθμίζεται από μηχανικό οδηγό έτσι ώστε το επιθυμητό λ να οδηγείται στον καθρέπτη του ανιχνευτή Από το φράγμα Echelle θ i1 = 60 Γωνία επίπεδου καθρέπτη πρίσματος 21 Πολυδιαυλικό φασματόμετρο echelle με ανιχνευτή CCD κατά τμήματα Παραβολικό κάτοπτρο Στοιχείο διασταυρούμενης Ανάλυσης Schmidt CCD:Συστοιχία φωτοανιχνευτών Σχισμή Εισόδου CCD: Ανιχνευτής UV Echelle Πυρσός ICP Καθρέπτη κάμερας UV Καταχωρητές CCD: - Έξοδος Ανιχνευτής σύζευξης φορτίου Κατά τμήματα Υποστοιχείο φωτοανιχνευτών 22 11

12 ΠΑΡΕΜΠΟΔΙΣΕΙΣ ΣΤΗN ΙCP-AΕS Φυσικές Παρεμποδίσεις εκνέφωσης: Διαφορετικές φυσικές ιδιότητες του πρότυπου διαλύματος και του δείγματος (ιξώδες, επιφανειακή τάση, πυκνότητα) Διαφορά στην εκνέφωση του δείγματος Φασματικές: Προκύπτουν επειδή υπάρχουν πολλές γραμμές εκπομπής στο ICP (Li:30, Ca:662, Cr:2277, Fe:4757, Ce:5755) Άμεση επικάλυψη φασματικών γραμμών Επικάλυψη φασματικής γραμμής από διευρυμένη πλευρική κορυφή (wing) Συνεχές φάσμα εκπομπής Παράσιτη ακτινοβολία 23 ΦΥΣΙΚΕΣ ΠΑΡΕΜΠΟΔΙΣΕΙΣ ΣΤΗN ΙCP-AΕS Αλλαγή των φυσικών ιδιοτήτων του διαλύματος (ιξώδες, επιφανειακή τάση, πυκνότητα) Άλατα ή οργανικοί διαλύτες Μεταβολή στην ταχύτητα εκνέφωσης και στη διάμετρο των σωματιδίων του αερολύματος. Προσαρμογή στη μήτρα του δείγματος Μέθοδος σταθερών προσθηκών Μέθοδος Εσωτερικού Προτύπου 24 12

13 ΦΑΣΜΑΤΙΚΕΣ ΠΑΡΕΜΠΟΔΙΣΕΙΣ ΣΤΗN ΙCP-AΕS Μετατόπιση γραμμής βάσης BGC ενός σημείου Πλευρικό BG BGC 2 σημείων Δομημένο BG Διόρθωση με λογισμικό Άμεση επικάλυψη - Διόρθωση με λογισμικό διαστοιχειακών παρεμποδίσεων 25 ΑΝΑΛΥΤΙΚΗ ΜΕΘΟΔΟΛΟΓΙΑ ΣΤΗN ΙCP-AΕS Επιλογή μήκους κύματος (φασματικές επικαλύψεις περιοχή συγκεντρώσεων αναλύτη στο δείγμα, ιοντική ή ατομική εκπομπή) Βαθμονόμηση μήκους κύματος με πρότυπα διαλύματα και δείγματα (πχ Cd nm) Βαθμονόμηση οργάνου (μεγάλη γραμμική περιοχή: 6 τάξεις). Αποκλίσεις μόνο αν δεν γίνεται σωστή διόρθωση υποβάθρου Δυνατότητα χρήσης εσωτερικού προτύπου Περιοδική αναβαθμονόμηση για έλεγχο ολίσθησης Βελτιστοποίηση συνθηκών λειτουργίας: ροή Ar στον εκνεφωτή, τάση ΡΜΤ, ισχύς RF, ύψος παρατήρησης

14 ΕΦΑΡΜΟΓΕΣ ΙCP-AΕS Τρόφιμα Περιβάλλον Κλινική Χημεία Γεωχημεία Μέταλλα/Κράματα Πετρέλαιο/Λιπαντικά 27 ΦΑΣΜΑΤΟΜΕΤΡΙΑ ΑΤΟΜΙΚΩΝ ΜΑΖΩΝ H ανάλυση με φασματομετρία ατομικών μαζών περιλαμβάνει τα εξής στάδια: 1) Ατομοποίηση 2) Ιοντισμός, παράγοντας δέσμη μονοφορτισμένων θετικών ιόντων 3) Διαχωρισμός των ιόντων με βάση το λόγο m/z 4) Απαρίθμηση ιόντων ή μέτρηση του ρεύματος κατάλληλου μεταλλάκτη } Τα στάδια (1) + (2) πραγματοποιούνται στο ICP Tα στάδια(3) + (4) πραγματοποιούνται σε αναλυτή MS Συζευγμένη τεχνική : ICP-MS 28 14

15 Αρχή λειτουργίας ICP-MS Ιοντικοί φακοί Αναλυτής μάζας (τετράπολο) Κώνοι: Α) sample cone B) skimmer cone Πηγή ιοντισμού (πλάσμα Ar) A) Πυρσός B) Πηνίο Γ) Βοηθητικές παροχές αερίων Σύστημα εισαγωγής δείγματος : Α) Εκνεφωτής Β) Θάλαμος ψεκασμού Αντλίες κενού (Διάχυσης) Ανιχνευτής (Ηλεκτρονιοπολλαπλασιαστής) 29 Σημείο διασύνδεσης του ICP με το MS Στάδιο διαστολής: Διασύνδεση ICP (ατμ. Πίεση) με QMS (υπό κενό) Κώνος δειγματοληψίας: Ni ή Pt Λόγω διαστολής το αέριο ψύχεται Ένα τμήμα αερίου από τον αποκορυφωτή μεταφέρεται στους φακούς ιόντων. Τα θετικά ιόντα διαχωρίζονται από τα e, τα φωτόνια και τα ουδέτερα σωματίδια με εφαρμογή αρνητικού δυναμικού 30 15

16 Σημείο διασύνδεσης του ICP με το MS 31 ΤΕΤΡΑΠΟΛΙΚΟΣ ΑΝΑΛΥΤΗΣ ΜΑΖΩΝ Μικρό μέγεθος Το μικρότερο κόστος Υψηλή ταχύτητα σάρωσης (<100ms) Μόνο τα ιόντα με συγκεκριμένο m/z φτάνουν στον μεταλλάκτη ιόντων Διακριτική ικανότητα: ~1Da (u) Φίλτρο μαζών 32 16

17 Μεταλλάκτες: Ηλεκτρονιοπολλαπλασιαστές 33 Εσωτερικό οργάνου ICP-MS Αναλυτής μάζας (τετράπολο) Ιοντικοί φακοί Ηλεκτρονιοπολλαπλασιαστής Διακριτών δυνόδων 34 17

18 Πλεονέκτημα ICP-MS: Απλότητα φάσματος Pb Cr Επιλογή Ισοτόπων 1 ισότοπο 2 ισότοπα 3-5 ισότοπα 6+ ισότοπα Όλαταισότοπαείναιραδιενεργά 36 18

19 ΠΑΡΕΜΠΟΔΙΣΕΙΣ Φασματικές παρεμποδίσεις: Ισοβαρικές παρεμποδίσεις: 40 Αr + στο 44 Ca + Παρεμποδίσεις πολυατομικών ιόντων: 40 Αr 16 Ο + στο 56 Fe + Παρεμποδίσεις από οξείδια και υδροξείδια: 40 Ca 16 O στο 56 Fe + 37 Επιλογή Ισοτόπων Αποφυγή ισοβαρικών παρεμποδίσεων από το υπόβαθρο: Χρήση του 57 Fe ή του 54 Fe αντί του 56 Fe για την αποφυγή του 40 Ar 16 O Χρήση του 43 Ca ή του 44 Ca αντί του 40 Ca ( 40 Ar) Αποφυγή του 65 Cu, 64 Zn, 57 Fe σε δείγματα πλούσια σε Ca: 48 Ca 16 OH, 48 Ca 16 O, 40 Ca 16 OH Αποφυγή του 63 Cu σε δείγματα πλούσια σε Νa: 40 Ar 23 Na Αποφυγή ισοτόπων με ισοβαρικές παρεμποδίσεις: 114 Cd ( 114 Sn) 38 19

20 Κοινές Μοριακές Ισοβαρικές Παρεμποδίσεις Μοριακό Ιόν Αφθονία (%) Ισότοπο αναλύτη Αφθονία (%) 35 Cl 16 O Cl 17 O Cl 18 O Cl 16 O 1 H Cl 17 O 1 H Cl 18 O 1 H V Cr Cr Cr 53 Cr 54 Fe Cr Cl 16 O Cl 17 O Cr 54 Fe 54 Cr 39 AΡΣH ΠΑΡΕΜΠΟΔΙΣΕΩΝ Κυψελίδες αντιδράσεων ή συγκρούσεων: Δραστικά αέρια NH 3, CH 4, H 2, αλλά και He, αντιδρούν με τα πολυατομικά ιόντα. Άρση παρεμπόδισης 40 Αr στο 40 Ca με ΝΗ 3 : Μείωση σήματος, αλλά βελτίωση λόγου S/N 40 20

21 Κάλυψη στοιχείων ΠΠ από ICP-MS 41 Ποσοτικές και ημιποσοτικές εφαρμογές της τεχνικής ICP-MS Πολυστοιχειακή ποσοτική ανάλυση : 73 στοιχεία (> 75% του Περιοδικού Πίνακα) Καμπύλες ταυτόχρονης βαθμονόμησης για ιχνοστοιχεία και κύρια στοιχεία Μέθοδος εσωτερικού προτύπου Ταχύτατη ημιποσοτική ανάλυση Ισοτοπική ανάλυση Τεχνικήισοτοπικήςαραίωσης: υψηλή ακρίβεια και ανθεκτικότητα Οικονομικά ασύμφορη για ανάλυση ενός μόνο στοιχείου ανά δείγμα (εκτός από ισοτοπική ανάλυση ή ανάλυση σπανίων γαιών) 42 21

22 ΕφαρμογήμεθόδουΕσωτερικούΠροτύπου (I.S.) στην τεχνική ICP-MS ΗμάζατουI.S. πρέπει να είναι παραπλήσια με αυτή των αναλυτών Το δυναμικό ιονισμού του I.S. πρέπει να ταιριάζει με αυτό των αναλυτών Γενικές οδηγίες: Ένα με τρία I.S. Εύρη m/z: 6-50, , ΕφαρμογήμεθόδουΕσωτερικούΠροτύπου (I.S.) στην τεχνική ICP-MS To I.S. δεν πρέπει να υπάρχει στο δείγμα Επιλέγουμε μονοϊσοτοπικό στοιχείο, αν είναι δυνατό Τυπική συγκέντρωση μg/l Πιθανά ισότοπα για I.S.: 9 Be, 45 Sc, 59 Co, 89 Y, 103 Rh, 115 In, 175 Lu, 187 Re, 158 Tb, 165 Ho, 209 Bi 72 Ge (για As, Se, Zn σε δείγματα πλούσια σε Na) 44 22

23 Πλεονεκτήματα της τεχνικής ICP-MS Το ICP-MS παρέχει: (σε σχέση με όλες τιςάλλεςτεχνικές) Τα χαμηλότερα όρια ανίχνευσης (<ppt) Τη μεγαλύτερη ταχύτητα: 150 δείγματα x 72 στοιχεία /8 ώρες = αναλύσεις ανά 8h Αποκλειστική δυνατότητα ισοτοπικής ανάλυσης Ανάλυση σπανίων γαιών Μηδενικές χημικές παρεμποδίσεις Τη μεγαλύτερη δυναμική περιοχή (8-9 τάξεις μεγέθους) Μειονέκτημα: Υψηλό κόστος λειτουργίας, εκτός αν εκτελούνται πολλοί προσδιορισμοί 45 Συγκριτική Παρουσίαση Τεχνικών Ατομικής Φασματομετρίας Όρια Ανίχνευσης Flame AAS ICP - AES Hydride Gen. AAS GF - AAS ICP - MS Περιοχή Ορίων Ανίχνευσης (μg/l) 46 23

24 Συγκριτική Παρουσίαση Τεχνικών Ατομικής Φασματομετρίας GFAAS Δυναμική Περιοχή Flame AAS ICP ΑES ICP-MS Δυναμική Περιοχή 47 Συγκριτική Παρουσίαση Τεχνικών Ατομικής Φασματομετρίας Κόστος Flame AA GF - AA ICP - Emission ICP - MS Χαμηλό-----Σχετικό Κόστος Συστήματος-----Ψηλό 48 24

25 Ταχύτητα Συγκριτική Παρουσίαση Τεχνικών Ατομικής Φασματομετρίας Μικρή Ταχύτητα Μεγάλη FAAS ICP ΑES GFAAS ICP MS Ψηλό Όριο Ανίχνευσης Χαμηλό 49 Συγκριτικός πίνακας τεχνικών ΑΦ LODs (ppb) Κόστος ICP-AES ICPMS FAAS GFAAS Ευαισθησία 50 25

26 Σύγκριση τεχνικών Ατομικής Φασματομετρίας Flame AAS: Υψηλή εκλεκτικότητα Ευκολία χειρισμού Χαμηλού κόστους RSDs0.3-1% Μόνο υγρά δ/τα ICP AES: Υψηλή θερμοκρασία πλάσματος, προσδιορισμός «δύσκολων» στοιχείων Πολυστοιχειακή Μεγάλη δυναμική περιοχή RSDs 0.5-2% Ασφαλής, ταχεία και εύκολη ανάλυση Φασματικές παρεμποδίσεις GF AAS: Υψηλή εκλεκτικότητα Χαμηλά όρια ανίχνευσης Στερεά δείγματα Χημικές παρεμποδίσεις Αργή τεχνική ICP MS: Χαμηλότατα όρια ανίχνευσης Μεγάλη δυναμική περιοχή Πολυστοιχειακή Ταχεία ημιποσοτική ανάλυση Ισοτοπική ανάλυση Απλότητα φάσματος Ισοβαρικές παρεμποδίσεις Υψηλό κόστος 51 Συγγράμματα D.A. Skoog, F.J. Holler, T.A. Nieman «Αρχές της Ενόργανης Ανάλυσης», Eκδόσεις Kωσταράκη, Αθήνα, 2002: Κεφ. 7Ε-3, 8Γ, 10Α και11γ Ι.Α. Στράτη, Δ.Γ. Θεμελή, Γ.Α. Ζαχαριάδη, Α.Ν. Ανθεμίδη, Α.Σ. Οικονόμου, «Ενόργανη Χημική Ανάλυση ΙΙ», Εκδόσεις Ζήτη, Θεσσαλονίκη, 2004, Κεφ

27 Σχήματα Τα σχήματα της παρουσίασης ήταν από τις παρακάτω πηγές: D.A. Skoog, F.J. Holler, T.A. Nieman «Αρχές της Ενόργανης Ανάλυσης», Eκδόσεις Kωσταράκη, Αθήνα, 2002: Κεφ. 7Ε-3, 8Γ, 10Α και11γ A.R.Date and A.L.Gray, Applications of Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry, Blackie, 1989 Joachim Nolte, ICP Emission Spectrometry A practical guide, Wiley, 2003 Perkin Elmer Agilent 53 27