Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

Σχετικά έγγραφα
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΟ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΟ. Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης ή Διαπερατότητας

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

Ύλη ένατου µαθήµατος. Οπτικό µικροσκόπιο, Ηλεκτρονική µικροσκοπία σάρωσης, Ηλεκτρονική µικροσκοπία διέλευσης.

Τι είναι η ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ; Τι μέγεθος έχει το μικρότερο αντικείμενο που μπορούμε να δούμε; Τι πληροφορίες μπορούμε να αποκομίσουμε και με τι ευκρίνεια;

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ


ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

Ποσοτική Μικροανάλυση Μέθοδος ZAF

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

Z L L L N b d g 5 * " # $ % $ ' $ % % % ) * + *, - %. / / + 3 / / / / + * 4 / / 1 " 5 % / 6, 7 # * $ 8 2. / / % 1 9 ; < ; = ; ; >? 8 3 " #

Σημειώσεις Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας

Σύγχρονο Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης. Transition Electron Microscopy TEM

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ


ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ

Οι ακτίνες Χ είναι ηλεκτροµαγνητική ακτινοβολία µε λ [ m] (ή 0,01-10Å) και ενέργεια φωτονίων kev.

Οι ακτίνες Χ είναι ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία με λ [ m] (ή 0,01-10Å) και ενέργεια φωτονίων kev.

ΠΕΡΙΓΡΑΦΙΚΗ και ΕΠΑΓΩΓΙΚΗ ΣΤΑΤΙΣΤΙΚΗ

Α1. Πράσινο και κίτρινο φως προσπίπτουν ταυτόχρονα και µε την ίδια γωνία πρόσπτωσης σε γυάλινο πρίσµα. Ποιά από τις ακόλουθες προτάσεις είναι σωστή:

ΒΙΟΦΥΣΙΚΗ. Αλληλεπίδραση ιοντίζουσας ακτινοβολίας και ύλης.

τατιςτική ςτην Εκπαίδευςη II

ΦΥΣΙΚΕΣ ΜΕΘΟΔΟΙ ΣΤΗΝ ΑΝΟΡΓΑΝΗ ΧΗΜΕΙΑ

Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

ΕΙΣΑΓΩΓΗ ΣΤΙΣ ΦΑΣΜΑΤΟΜΕΤΡΙΚΕΣ ΤΕΧΝΙΚΕΣ (SPECTROMETRIC TECHNIQUES)

ΡΑΔΙΟΧΗΜΕΙΑ 1. ΑΠΑΡΙΘΜΗΤΕΣ ΙΟΝΤΙΣΜΟΥ ΑΕΡΙΩΝ ΚΕΦΑΛΑΙΟ 6.ΜΕΤΡΗΤΕΣ ΡΑΔΙΕΝΕΡΓΕΙΑΣ

Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

1. ΦΥΣΙΚΕΣ ΑΡΧΕΣ IONTIZOYΣΑΣ ΑΚΤΙΝΟΒΟΛΙΑΣ (ΑΚΤΙΝΕΣ Χ γ) Εργαστήριο Ιατρικής Φυσικής Παν/μιο Αθηνών

ΠΕΡΙΓΡΑΦΙΚΗ και ΕΠΑΓΩΓΙΚΗ ΣΤΑΤΙΣΤΙΚΗ

Ατομική Φυσική. Η Φυσική των ηλεκτρονίων και των ηλεκτρομαγνητικών δυνάμεων.

Τηλεπισκόπηση - Φωτοερμηνεία

Φυσική ΙΙΙ. Ενότητα 4: Ηλεκτρικά Κυκλώματα. Γεώργιος Βούλγαρης Σχολή Θετικών Επιστημών Τμήμα Φυσικής

ΓΕΝΙΚΗ ΚΑΙ ΑΝΟΡΓΑΝΗ ΧΗΜΕΙΑ

ΑΚΤΙΝΟΛΟΓΙΑ Ι. 1 ο ΜΑΘΗΜΑ

Μέθοδοι έρευνας ορυκτών και πετρωμάτων

ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΙΩΑΝΝΙΝΩΝ ΑΝΟΙΚΤΑ ΑΚΑΔΗΜΑΪΚΑ ΜΑΘΗΜΑΤΑ. Σύγxρονη Φυσική II. Ακτίνες Χ - Lasers Διδάσκων : Επίκ. Καθ. Μ. Μπενής

Πρόοδος µαθήµατος «οµικής και Χηµικής Ανάλυσης Υλικών» Χρόνος εξέτασης: 3 ώρες

Η ΕΝΕΡΓΕΙΑ ΤΟΥ ΑΤΟΜΟΥ ΤΟΥ ΥΔΡΟΓΟΝΟΥ

Κβαντική Φυσική Ι. Ενότητα 1: Ανασκόπηση Σύγχρονης Φυσικής. Ανδρέας Τερζής Σχολή Θετικών Επιστημών Τμήμα Φυσικής

Κυματική φύση της ύλης: ΚΒΑΝΤΙΚΗ ΜΗΧΑΝΙΚΗ. Φωτόνια: ενέργεια E = hf = hc/λ (όπου h = σταθερά Planck) Κυματική φύση των σωματιδίων της ύλης:

ΠΕΡΙΓΡΑΦΙΚΗ και ΕΠΑΓΩΓΙΚΗ ΣΤΑΤΙΣΤΙΚΗ

ΙΔΙΟΤΗΤΕΣ ΜΑΓΝΗΤΙΚΩΝ ΦΑΚΩΝ. Ηλεκτροστατικοί και Μαγνητικοί Φακοί Βασική Δομή Μαγνητικών Φακών Υστέρηση Λεπτοί Μαγνητικοί Φακοί Εκτροπές Φακών

Η ΔΙΔΑΣΚΑΛΙΑ ΤΗΣ ΙΣΤΟΡΙΑΣ ΣΤΗΝ ΕΛΛΗΝΙΚΗ ΔΙΑΣΠΟΡΑ (A06 11)

Ιστορίας της παιδείας από τα κάτω Α03 06

Κρυσταλλικές ατέλειες στερεών

ΦΥΣΙΚΗ ΓΕΝΙΚΗΣ ΠΑΙΔΕΙΑΣ ΔΙΑΓΩΝΙΣΜΑ Α

ΦΥΣΙΚΕΣ ΜΕΘΟΔΟΙ ΣΤΗΝ ΑΝΟΡΓΑΝΗ ΧΗΜΕΙΑ

Γνωστική Ψυχολογία 3

Παραγωγή ακτίνων Χ. V e = h ν = h c/λ λ min = h c/v e λ min (Å) 12400/V

ΠΕΙΡΑΜΑ 4: ΟΠΤΙΚΗ ΦΑΣΜΑΤΟΣΚΟΠΙΑ AΠΟΡΡΟΦΗΣΗΣ

ΟΡΟΣΗΜΟ ΘΕΜΑ Δ. Δίνονται: η ταχύτητα του φωτός στο κενό c 0 = 3 10, η σταθερά του Planck J s και για το φορτίο του ηλεκτρονίου 1,6 10 C.

τατιςτική ςτην Εκπαίδευςη II

ΑΝΑΠΤΥΞΗ ΝΑΝΟΔΟΜΗΜΕΝΩΝ ΥΛΙΚΩΝ ΜΕ ΝΑΝΟΣΩΛΗΝΕΣ ΑΝΘΡΑΚΑ ΓΙΑ ΧΡΗΣΗ ΣΕ ΕΦΑΡΜΟΓΕΣ ΥΨΗΛΗΣ ΑΝΤΟΧΗΣ

ΑΝΟΙΚΤΑ ΑΚΑΔΗΜΑΪΚΑ ΜΑΘΗΜΑΤΑ ΑΡΙΣΤΟΤΕΛΕΙΟ ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΘΕΣΣΑΛΟΝΙΚΗΣ ΗΛΕΚΤΡΟΛΟΓΙΚΑ ΥΛΙΚΑ. Ενότητα 1: ΑΤΟΜΑ ΚΑΙ ΔΕΣΜΟΙ ΛΙΤΣΑΡΔΑΚΗΣ ΓΕΩΡΓΙΟΣ ΤΗΜΜΥ

Γ ΚΥΚΛΟΣ ΣΥΓΧΡΟΝΩΝ ΠΡΟΣΟΜΟΙΩΤΙΚΩΝ ΔΙΑΓΩΝΙΣΜΑΤΩΝ Προτεινόμενα Θέματα Γ ΓΕΛ Φεβρουάριος Φυσική ΘΕΜΑ Α

ΑΠΟΛΥΤΗΡΙΕΣ ΕΞΕΤΑΣΕΙΣ Γ ΤΑΞΗΣ ΗΜΕΡΗΣΙΟΥ ΓΕΝΙΚΟΥ ΛΥΚΕΙΟΥ ΕΥΤΕΡΑ 18 MAΪΟΥ 2009 ΕΞΕΤΑΖΟΜΕΝΟ ΜΑΘΗΜΑ: ΦΥΣΙΚΗ ΓΕΝΙΚΗΣ ΠΑΙ ΕΙΑΣ ΣΥΝΟΛΟ ΣΕΛΙ ΩΝ: ΕΞΙ

Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

ΦΥΣΙΚΕΣ ΜΕΘΟΔΟΙ ΣΤΗΝ ΑΝΟΡΓΑΝΗ ΧΗΜΕΙΑ

ΘΕΜΑ 1 ο Στις ερωτήσεις 1-4 να γράψετε στο τετράδιό σας τον αριθμό της ερώτησης και δίπλα το γράμμα, που αντιστοιχεί στη σωστή απάντηση.

ΘΕΜΑ Β Β.1 Α) Μονάδες 4 Μονάδες 8 Β.2 Α) Μονάδες 4 Μονάδες 9

ΓΛ/Μ ΣΥΣΤΗΜΑ ΠΑΙΔΕΙΑΣ ΟΡΟΣΗΜΟ. Τεύχος 3ο: Φυσική Γενικής Παιδείας: Ατομικά Φαινόμενα

Ιστορίας της παιδείας από τα κάτω Α03 06

Εισαγωγή στη Μικροανάλυση Aκτίνων-X

ΠΡΟΤΥΠΟ ΛΥΚΕΙΟ ΕΥΑΓΓΕΛΙΚΗΣ ΣΧΟΛΗΣ ΣΜΥΡΝΗΣ

ΔΙΑΓΩΝΙΣΜΑ ΣΤΗ ΦΥΣΙΚΗ ΓΕΝ. ΠΑΙΔΕΙΑΣ Γ' ΛΥΚΕΙΟΥ

18/1/ /1/2016 2

ΕΡΓΑΣΤΗΡΙΟ ΑΤΟΜΙΚΗΣ ΦΥΣΙΚΗΣ. Άσκηση 3: Πείραμα Franck-Hertz. Μέτρηση της ενέργειας διέγερσης ενός ατόμου.

Σχολή Θετικών και Τεχνολογικών Επιστημών Τμήμα Φυσικής, Πανεπιστήμιο Κρήτης Εισαγωγή στην Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

Οι περισσότεροι μονοτοιχωματικοί νανοσωλήνες έχουν διάμετρο περί του 1 νανομέτρου (υπενθυμίζεται ότι 1nm = 10 Å).

ΙΑΓΩΝΙΣΜΑ ΦΥΣΙΚΗΣ ΓΕΝ. ΠΑΙ ΕΙΑΣ ΑΤΟΜΙΚΗ ΦΥΣΙΚΗ ΘΕΜΑ 1 ο.

Λογική Δημήτρης Πλεξουσάκης Φροντιστήριο 5: Προτασιακός Λογισμός: Κατασκευή Μοντέλων Τμήμα Επιστήμης Υπολογιστών

Ακτίνες επιτρεπόμενων τροχιών (2.6)

ΜΕΤΑΒΑΣΗ ΑΠΟ ΤΟ ΝΗΠΙΑΓΩΓΕΙΟ ΣΤΟ ΔΗΜΟΤΙΚΟ ΣΧΟΛΕΙΟ: ΕΚΠΑΙΔΕΥΤΙΚΟΙ ΣΧΕΔΙΑΣΜΟΙ ΚΑΙ ΔΙΔΑΚΤΙΚΕΣ ΠΡΑΚΤΙΚΕΣ

ΑΡΧΗ 1ΗΣ ΣΕΛΙΔΑΣ ΤΕΛΟΣ 1ΗΣ ΣΕΛΙΔΑΣ

ΓΕΝΙΚΗ ΚΑΙ ΑΝΟΡΓΑΝΗ ΧΗΜΕΙΑ

Γεωργικά Φάρμακα ΙΙΙ

είναι τα μήκη κύματος του φωτός αυτού στα δύο υλικά αντίστοιχα, τότε: γ. 1 Β) Να δικαιολογήσετε την επιλογή σας.

Μετρήσεις Διατάξεων Laser Ανιχνευτές Σύμφωνης Ακτινοβολίας. Ιωάννης Καγκλής Φυσικός Ιατρικής Ακτινοφυσικός

ΠΕΡΙΓΡΑΦΙΚΗ και ΕΠΑΓΩΓΙΚΗ ΣΤΑΤΙΣΤΙΚΗ

Εισαγωγή σε προχωρημένες μεθόδους υπολογισμού στην Επιστήμη των Υλικών

Κεφάλαιο 37 Αρχική Κβαντική Θεωρία και Μοντέλα για το Άτομο. Copyright 2009 Pearson Education, Inc.

ΚΕΦΑΛΑΙΟ 13 LASER. Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation Ενίσχυση Φωτός με Επαγόμενη Εκπομπή Ακτινοβολίας

ιαγώνισµα Β Τάξης Ενιαίου Λυκείου Κυριακή 5 Απρίλη 2015 Φως - Ατοµικά Φαινόµενα - Ακτίνες Χ

Μονάδες Το γραμμικό φάσμα του ατόμου του υδρογόνου ερμηνεύεται με

Transcript:

ΕΛΛΗΝΙΚΗ ΔΗΜΟΚΡΑΤΙΑ ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΚΡΗΤΗΣ Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Β. Μπίνας, Γ. Κυριακίδης Τμήμα Φυσικής

Άδειες Χρήσης Το παρόν εκπαιδευτικό υλικό υπόκειται στην άδεια χρήσης Creative Commons και ειδικότερα Αναφορά Μη εμπορική Χρήση Όχι Παράγωγο Έργο 4.0 Ελλάδα (Attribution Non Commercial Non-derivatives 4.0 Greece) CC BY-NC-ND 4.0 GR [ή επιλογή ενός άλλου από τους έξι συνδυασμούς] [και αντικατάσταση λογότυπου άδειας όπου αυτό έχει μπει (σελ. 1, σελ. 2 και τελευταία)] Εξαιρείται από την ως άνω άδεια υλικό που περιλαμβάνεται στις διαφάνειες του μαθήματος, και υπόκειται σε άλλου τύπου άδεια χρήσης. Η άδεια χρήσης στην οποία υπόκειται το υλικό αυτό αναφέρεται ρητώς.

Χρηματοδότηση Το παρόν εκπαιδευτικό υλικό έχει αναπτυχθεί στα πλαίσια του εκπαιδευτικού έργου του διδάσκοντα. Το έργο «Ανοικτά Ακαδημαϊκά Μαθήματα στο Πανεπιστήμιο Κρήτης» έχει χρηματοδοτήσει μόνο τη αναδιαμόρφωση του εκπαιδευτικού υλικού. Το έργο υλοποιείται στο πλαίσιο του Επιχειρησιακού Προγράμματος «Εκπαίδευση και Δια Βίου Μάθηση» και συγχρηματοδοτείται από την Ευρωπαϊκή Ένωση (Ευρωπαϊκό Κοινωνικό Ταμείο) και από εθνικούς πόρους.

ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ΔΡ. ΒΑΣΙΛΕΙΟΣ ΜΠΙΝΑΣ Post Doc Researcher, Chemist Τμήμα Φυσικής, Πανεπιστήμιο Κρήτης Email: binasbill@iesl.forth.gr Thl. 1269 C C C Nanotechnology Department of Physics, University of Crete Transparent Conductive Materials (Head prof. G. Kiriakidis) Institute of Electronic Structure & Laser IESL Foundation for Research and Technology - FORTH F

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΟ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΟ!"#$ %&

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΟ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΟ MNOPQRSTUPV Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2011 (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.194 nm 3456789:5; Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2000FX (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.28 nm '()*+, -./0, *12 WUPRSXPVYUS Ατομικών Δυνάμεων (AFM) Explorer 2000 Truemetrix Topometrix, δύο σαρωτών των 100 μm x 100 μm, 2.5 μm x 2.5 μm και υγρό σαρωτή των 2.5 μm x 2.5 μm με ανάλυση μερικών nm Εργαστήριο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας GHIJKL Φυσικής Στερεάς Κατάστασης Τμήμα Φυσικής Αριστοτέλειο Πανεπιστήμιο Θεσσαλονίκης <=>?@ABDE Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης JEOL 100 CX (100 KV) με διακριτική ικανότητα καλύτερη από 0.5 nm και υποδοχείς δείγματος με δυνατότητα ψύξης, θέρμανσης και εφελκυσμού.

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΟ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΟ Εργαστήριο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας fghijklmnokp qrnmst Z[\]^ _ `abc _ ]de

ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΑ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ ƒ Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Διερχόμενης Δέσμης (TEM) Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Σάρωσης (SEM) Μικροσκοπία Ατομικών Δυνάμεων (AFM) Περίθλαση Ακτίνων-Χ (XRD) ˆ Š Œ Ž ˆŒ Ž š œ žÿ Εφαρμογές uvwxy z { }~ z x œ Ÿ žÿ

¹º» ¼ ½¾¹ Àº ¼ ¹»ÁºÂº ¹º ½ ¹ÃÄÀÅÆ Ç ¼ ¹ºÇ ÈÄ» ¹Á¹º¹ Ç ÉÃÄ προσφέρουν τα διάφορα Η.Μ. είναι απαραίτητο να εξεταστούν οι τρόποι με τους οποίους μια ενεργειακή δέσμη ηλεκτρονίων αντιδρά με το δείγμα ª«±²³ µ

ÊËÌÍÎ Ï ÐÑÒÓ Ï ÍÔÕ

ταχέως ηλεκτρονίων (πρωτογενή) κινούμενων Η πιθανότητα ένα e- της δέσμης να σκεδαστεί με έναν συγκεκριμένο τρόπο χαρακτηρίζεται από την ενεργό διατομή σ ή από την μέση ελεύθερη διαδρομή Ν: αριθμός σκεδάσεων και λ η μέση απόσταση μτξ 2 διαδοχικών Ö ØÙÚ Û ÜÝÞß Û Ùàá σκεδάσεων

îïðñòóô τυπικών ηλεκτρονίων με την μέθοδο Monte Carlo õö ø περίπτωση απλών ή λίγων σκεδάσεων η πιθανότητα ένα ηλεκτρόνιο να σκεδάσει n φορές σε μία απόσταση χ δίνεται από την σχέση Poisson âãäåæ ç èéêë ç åìí

Λεπτό Δείγμα Μικροσκόπιο Διέλευσης (Transmission Electron Microscope, TEM) τα ηλεκτρόνια σκεδάζονται ελάχιστα Παχύ Δείγμα Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης (Scanning Electron Microscope, SEM) τα ηλεκτρόνια σκεδάζονται σε μεγάλο ποσοστό μέχρι να μηδενιστεί η ταχύτητά τους ùúûüý þ ÿf þ ü

ηλεκτρονίων * κατεύθυνσης χωρίς να χάνει ενέργεια

s s electron nucleus æ e ö = p ç èvq ø æzeö = p ç èvq ø 2 2 '()+, γωνία σκέδασης -./013 γωνία σκέδασης Η σκέδαση σε μεγάλες γωνίες είναι πιθανότερη για βαριά άτομα!"#$ %&

Λεπτό Δείγμα (ΤΕΜ) υφίστανται απλή σκέδαση Παχύ Δείγμα περίθλαση μας δίνει πολύτιμες πληροφορίες για την περιοδική διάταξη των ατόμων στο εσωτερικό του υλικου 45678 9 :;<= 9 7>?

MNOPQROST ηλεκτρονίων > 0.1 ev @ABCD E GHIJ E CKL

πρωτογενές ηλεκτρόνιο χάνει ενέργεια διεγείροντας: Φωνόνιο, οδηγώντας σε θέρμανση του δείγματος (απώλεια ενέργειας 1eV, μέση ελεύθερη διαδρομή μm) (απώλειαενέργειας 5-30eV, μέση ελεύθερη διαδρομή nm) e- εσωτερικών στοιβάδων (απώλεια ενέργειας μεγάλη και εξαρτάται από το διεγερμένο άτομο και την στοιβάδα, μέση ελεύθερη διαδρομή μm) > 0.1 ev Φωνόνιο είναι το κβάντο των ταλαντώσεων πλέγματος ένός υλικού UVWXY Z [\]^ Z X_`

πρωτογενές ηλεκτρόνιο χάνει ενέργεια διεγείροντας: mnopoqr, οδηγώντας σε θέρμανση του δείγματος (απώλεια ενέργειας 1eV, μέση ελεύθερη διαδρομή μm) (απώλειαενέργειας 5-30eV, μέση ελεύθερη διαδρομή nm) εσωτερικών στοιβάδων (απώλεια ενέργειας μεγάλη και εξαρτάται από το διεγερμένο άτομο και την στοιβάδα, μέση ελεύθερη διαδρομή μm) > 0.1 ev Πλασμόνιο είναι το κβάντο των ταλαντώσεων φορτίου της ζώνης αγωγιμότητας ενός μετάλλου ή των ηλεκτρονίων των δεσμών σε μη αγώγιμα υλικά abcde f ghij f dkl

πρωτογενές ηλεκτρόνιο χάνει ενέργεια διεγείροντας: ƒ, οδηγώντας σε θέρμανση του δείγματος (απώλεια ενέργειας 1eV, μέση ελεύθερη διαδρομή μm) Πλασμόνιο, (απώλειαενέργειας 5-30eV, μέση ελεύθερη διαδρομή nm) εσωτερικών στοιβάδων (απώλεια ενέργειας μεγάλη και εξαρτάται από το διεγερμένο άτομο και την στοιβάδα, μέση ελεύθερη διαδρομή μm) > 0.1 ev 283 ev για την διέγερση ενός ηλεκτρονίου της Κ στοιβάδας του C, 69508 ev για την διέγερση ενός ηλεκτρονίου της Κ στοιβάδας του W, 1100 ev για την διέγερση ενός ηλεκτρονίου της L στοιβάδας του Cu stuvw x yz{ x v}~

Φαινόμενα Οφείλονται στα ηλεκτρόνια της δέσμης και μπορούν να ανιχνευτούν εκτός δείγματος ηλεκτρόνια ονομάζονται τα ηλεκτρόνια που διαφεύγουν από την πλευρά εισόδου της δέσμης (ενέργεια μικρότερη από 50eV). Διαφεύγουν από το δείγμα μόνο εάν βρίσκονται πολύ κοντά στην επιφάνεια και έχουν μικρή ενέργεια. Χρησιμοποιούνται για τον σχηματισμό ειδώλου της επιφάνειας του δείγματος στο SEM ˆ Š Œ Ž

Φαινόμενα ηλεκτρόνια: τα ηλεκτρόνια που διαφεύγουν από την πλευρά εισόδου της δέσμης και έχουν μεγάλη ενέργεια. Προέρχονται από μεγάλο βάθος μέσα σο δείγμα (σκέδαση από πυρήνα ατόμων) š œ

Φαινόμενα αποδιέγερσης καθοδοφωταύγεια, άδεια θέση e- σε εξωτερική στοιβάδα και απελευθέρωση ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας χαμηλής ενέργειας που αντιστοιχεί στο ορατό φάσμα Φάσμα ακτίνων Χ ή εκπομπή ενός e- Auger, άδεια θέση σε εσωτερική στοιβάδα. ενέργεια των ακτίνων Χ είναι χαρακτηριστική του είδους του ατόμου και τις στοιβάδας, οπότε εάν διαθέτουμε τον κατάλληλο ανιχνευτή είναι δυνατό να ταυτοποιήσουμε το στοιχείο από το οποίο προήλθε. žÿ

Ομοιογενής δέσμη δείγματος καθοριστικά για το είδος του ειδώλου του Λεπτή δεσμη ª«±²³ µ

Ομοιογενής δέσμη ανοίγματος (1μm 1mm διάμετρος) δέσμη φωτίζει μεγάλη περιοχή δείγματος Λεπτή δεσμη ειδώλου περιορισμένης Δ.Ι. Μέθοδος Σταθερής Δέσμης ή Κλασσική ¹º» ¼½¾» ¹ÀÁ

Δέσμη η οποία εστιάζει σε ένα σημείο (2 200Α διάμετρος). Η σημειακή δέσμη εκτρέπεται πλαγίως και καθέτως πάρα πολύ γρήγορα σαρώνοντας γρήγορα μεγάλη περιοχή δείγματος (τηλεόραση) Δ.Ι. καθορίζεται από το μέγεθος της σημειακής δέσμης Μέθοδος Σάρωσης ÂÃÄÅÆ Ç ÈÉÊË Ç ÅÌÍ

Σταθερής Δέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Transmission Electron Microscopy -ΤΕΜ Σαρωτικό, σταθερήςδέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Scanning Transmission Electron Microscope STEM Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης Scanning Electron Microscope SEM Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Ανάκλασης Reflection Electron Microscopy Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εκπομπής Emission Electron Microscopy Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Υψηλής Τάσης High voltage Electron Microscopy Ηλεκτρονικής Δέσμης Μικροαναλυτή ακτίνων Χ Electron Probe X-ray Microanalyser ÎÏÐÑÒ Ó ÔÕÖ Ó ÑØÙ

Σάρωσης με Ακίδα Scanning Probe Microscopy -SPM ÚÛÜÝÞ ß àáâã ß Ýäå

Σταθερής Δέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Transmission Electron Microscopy -ΤΕΜ Σχηματισμός ειδώλων ΜΟΝΟ σε λεπτά δείγματα 50-90% της προσπίπτουσας δέσμης ηλεκτρονίων διαπερνά το δείγμα Έως 4 μαγνητικούς φακούς Δ.Ι. περιορίζεται από την τελειότητα των φακών ένα συμβατικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης, ένα λεπτό δείγμα ακτινοβολείται από μία δέσμη e- ομοιόμορφης πυκνότητας ρεύματος Μικροσκόπια υψηλότερης Δ.Ι. λειτουργούν με δυναμικά 200-500kV æçèéê ë ìíîï ë éðñ

Σταθερής Δέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Transmission Electron Microscopy -ΤΕΜ òóôõö øùúû õüý

Σταθερής Δέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Transmission Electron Microscopy -ΤΕΜ νήμα βολφραμίου θερμιονική εκπομπή Μεταλλική ακίδα εκπομπή πεδίου κενό 10-10 mbar εκπεμπόμενη δέσμη e- επιτυγχάνεται με την βοήθεια δύο ηλεκτροδίων που βρίσκονται σε υψηλή τάση kv - MV þÿf

Σταθερής Δέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Transmission Electron Microscopy -ΤΕΜ της δέσμης e- με την χρήση 2 συγκεντρωτικών φακών μαγνητικού τύπου Ηλεκτρομαγνητικά πηνία 10-7 - 10-4 mbar συγκεντρωτικοί φακοί προκαλούν εστίαση της δέσμης e-, σε μια περιοχή ελάχιστων τετραγωνικών μm2 του αντικειμένου

Σταθερής Δέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Transmission Electron Microscopy -ΤΕΜ

Σταθερής Δέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Transmission Electron Microscopy -ΤΕΜ Φακός, βρίσκεται μετά το δείγμα Ενδιάμεσος Φακός, σχηματισμός ενός ενδιάμεσου ειδώλου το οποίο αποτελεί μεγεθυμένη απεικόνιση του αντικειμένου Προβολικός Φακός, προβολή του ενδιάμεσου ειδώλου μεγεθυμένο σε φθορίζουσα οθόνη!"#$% & '()* & $+,

Σταθερής Δέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Transmission Electron Microscopy -ΤΕΜ -./01 2 3456 2 078

Σταθερής Δέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Transmission Electron Microscopy -ΤΕΜ 9:;<= >?@AB > <CD

δέσμης Η.Μ. διαπερατότητας ή Διέλευσης Scanning Transmission Electron Microscope STEM πρωτογενής δέσμη e- σαρώνεται πάνω σε λεπτό διαπερατό δείγμα e- που διαπερνούν το δείγμα ανιχνεύονται από κατάλληλο ανιχνευτή σαν ηλεκτρικό σήμα. Το ηλεκτρικό σήμα είναι μέτρο της μάζας και του πάχους της περιοχής Δ.Ι. καθορίζεται από το φυσικό μέγεθος της σημειακής δέσμης e-. Η μεγέθυνση είναι ο λόγος της γραμμής σάρωσης πάνω στο δείγμα προς αυτήν πάνω στην οθόνη προβολής EGHIJ K LMNO K IPQ

Μικροσκόπιο Σάρωσης Scanning Electron Microscope SEM δείγματος της επιφάνειας του Δ.Ι. και οι μεγεθύνσεις είναι χαμηλές σε σχέση με το ΤΕΜ αλλά η συμβολή του SEM στην μελέτη ανόργανων και οργανικών δειγμάτων είναι μοναδική RSTUV W XYZ[ W U\]

Μικροσκόπιο Σάρωσης Scanning Electron Microscope SEM e- για την μελέτη δειγμάτων δέσμη e- ενέργειας 1-50keV, Διάμετρο 2-10nm δευτερογενών e- και e- που έχουν υποστεί ελαστική σκέδαση ή χαμηλή απώλεια ενέργειας, ακτίνες Χ και φωταύγεια & οπισθοσκεδαζόμενα e- ενισχύονται και διαμορφώνουν την ένταση της δέσμης. Εμφάνιση μεγεθυμένης εικόνας ^_`ab c defg c ahi

Μικροσκόπιο Σάρωσης Scanning Electron Microscope SEM jklmn o pqrs o mtu

Μικροσκόπιο Ανάκλασης Reflection Electron Microscopy δέσμη e- αντί να διαπερνά το δείγμα, ανακλάται σχηματίζοντας πολύ μικρές γωνίες πρόσπτωσης και ανάκλασης με την επιφάνεια του δείγματος επισκιασθεί από τα SEM e- Σημείο παρατήρησης πάνω στον άξονα της δέσμης Πρόσπτωση και ανάκλαση των e- σε μικρή γωνία Δ.Ι. 10-20nm vwxyz { }~ { y

Μικροσκόπιο Εκπομπής Emission Electron Microscopy Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εκπομπής Πεδίου Ηλεκτρονίων Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εκπομπής Πεδίου Ιόντων ƒ ˆ Š Œ

Μικροσκόπιο Εκπομπής Emission Electron Microscopy : μέταλλο ή ημιαγωγός (περιέχει πλήθος e-) Σχηματισμός ειδώλου λόγω εξαναγκασης αυτών των e- να φύγουν από την επιφάνεια του δείγματος (προκαλώντας διέγερση ή εφαρμογή ισχυρού ηλεκτρικού πεδίου Η θερμιονική εκπομπή χρησιμοποιείται αποκλειστικά για την ευθυγράμμιση ενός ΤΕΜ χρησιμοποιώντας σαν δείγμα την πηγή των ηλεκτρονίων (νήμα) Ž

Μικροσκόπιο Εκπομπής Emission Electron Microscopy ελευθερώνονται από μία μυτερή άκρη ενός μετάλλου με υψηλό σημείο τήξεως π.χ. W Επιταχύνονται από το δυναμικό ανόδου και χτυπούν σε φθορίζουσα οθόνη Μεγέθυνση: λόγος της ακτίνας της μύτης προς την απόσταση μύτης - οθόνης š œ ž Ÿ Ÿ

Μικροσκόπιο Εκπομπής Emission Electron Microscopy θάλαμος κενού έχει αδρανές αέριο (He) Η μύτη του μετάλλου (κάθοδος στο προηγούμενο) γίνεται άνοδος και έλκει τα e- (το He χάνει ένα e- καθώς μπαίνει σε ισχυρό πεδίο ιονίζεται θετικά και επιταχύνεται προς την οθόνη Το μέγεθος ιονισμού εξαρτάται από την διάταξη των ατόμων του μετάλλου και έτσι η απεικόνιση είναι χαρακτηριστική του μετάλλου ª ««±

Δέσμης Μικροαναλυτή ακτίνων Χ Electron Probe X-ray Microanalyser είναι Η.Μ., είναι μια μέθοδος με την οποία μπορούμε να κάνουμε στοιχειακή ανάλυση των στοιχείων ενός δείγματος Λειτουργίας Αλληλεπίδραση e- με δείγμα και εκπομπή ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας. Μικρού μήκους κύματος μεγάλης ενέργειας (σκληρές), Μεγάλου μήκους μικρής ενέργειας (Μαλακές) ²³ µ ¹º» µ¼½

Δέσμης Μικροαναλυτή ακτίνων Χ Electron Probe X-ray Microanalyser παραγωγής ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας από αλληλεπίδραση e- ύλης ενέργειας πρωτογενών e- λόγω κρούσεων με τα e- των εξωτερικών στιβάδων. (εκπομπή συνεχούς φάσματος ακτίνων Χ Η ενέργεια των πρωτογενών e- είναι πάνω από 1kV και αντιδρούν με e- εσωτερικών στοιβάδων των ατόμων του δείγματος (εκπομπή ακτίνων χ καθορισμένου μήκους κύματος, χαρακτηριστικά για κάθε δείγμα) ¾ ÀÁÂ Ã ÄÅÆÇ Ã ÁÈÉ

Σάρωσης με Ακίδα Scanning Probe Microscopy -SPM ÊËÌÍÎ Ï ÐÑÒÓ Ï ÍÔÕ

Σάρωσης με Ακίδα Scanning Probe Microscopy -SPM αλληλεπιδρά με την επιφάνεια του δείγματος (καθορίζει την ανάλυση της εικόνας) Η ισχύς της αλληλεπίδρασης εξαρτάται από τις επιφανειακές ιδιότητες Σαρωτής Ö ØÙÚ Û ÜÝÞß Û Ùàá